KETT/凱特 L-500用膜厚儀探頭

KETT/凱特 L-500用膜厚儀探頭

主要規(guī)格

測量方式電磁感應(yīng)式

測定對象磁性金屬上非磁性覆膜

測量范圍0～2500μm

測量精度15μ小于m±0.3μm

15μm以上1000μ小于m±2%

1000μm以上±3%

對應(yīng)器種膜厚計L-500

主要規(guī)格

測量方式電磁感應(yīng)式或渦電流式

測定對象磁性金屬上非磁性覆膜或非磁性金屬上的絕緣覆膜

測量范圍※根據(jù)探針不同而不同

電磁式（EP-100）時：0～2500μm

電磁式（EP-110）時：0～2500μm

電磁式（EP-120）時：0～2500μm

附件鐵坯（EP-100用）、鋁坯（HP-100用）、標(biāo)準(zhǔn)板（10μm?50μm?100μm?500μm?1000μm?1500μm均為近似值?各1張）、電池1.5V（單3堿）AC適配器、電源線、探針適配器、掛件、打印機(jī)用紙、表面保護(hù)片、標(biāo)準(zhǔn)板殼、手提箱、調(diào)整簡單導(dǎo)軌、使用說明書

選配件標(biāo)準(zhǔn)板（附件以外的厚度）、膜厚計測量支架LW-990、校準(zhǔn)（校準(zhǔn)證書、校準(zhǔn)成績書、可追溯性體系圖）

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