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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)測量儀>其它光學(xué)測量儀>760450 可見光-短波紅外焦平面測試系統(tǒng)

760450 可見光-短波紅外焦平面測試系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
產(chǎn)品標(biāo)簽

可見光短波紅外焦平面

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聯(lián)合光科技(北京)有限公司是一家以光學(xué)元件、激光光學(xué)元件、成像鏡頭、光機(jī)元件、光電儀器為主要產(chǎn)品的現(xiàn)貨供應(yīng)商,宗旨是為客戶提供質(zhì)量可靠的產(chǎn)品和優(yōu)質(zhì)的一站式采購服務(wù)。公司總部在北京,在山東泰安、深圳、長春、重慶、昆明、株洲等地設(shè)有辦事處、檢測中心和生產(chǎn)基地;擁有銑磨機(jī)、研磨機(jī)、拋光機(jī)、鍍膜機(jī)等加工設(shè)備若干臺,同時(shí)擁有ZYGO 激光干涉儀、LAMDA 750分光光度計(jì)、ZEISS 三坐標(biāo)測量儀、TRIOPTICS 測角儀、 TRIOPTICS 高精度MTF測量儀、德國ARGOS 光學(xué)元件表面自動檢測系統(tǒng)、OptiCentric單光路中心偏測量儀等檢測儀器設(shè)備若干臺,對標(biāo)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)客戶提供高性價(jià)比的現(xiàn)貨標(biāo)準(zhǔn)品及定制服務(wù)。 公司目前有上萬種現(xiàn)貨光學(xué)元件、成像鏡頭、光機(jī)元件等標(biāo)準(zhǔn)品供您選擇,與此同時(shí),我們也在不斷優(yōu)化豐富產(chǎn)品種類,爭取為您提供更好的服務(wù)。 產(chǎn)品方面:公司配備有專業(yè)的檢測設(shè)備,對標(biāo)科研標(biāo)準(zhǔn)。 服務(wù)方面:公司配套的專業(yè)人員,通過售前支持和售后的維護(hù)來保障客戶的權(quán)益。 銷售方面:公司總部位于北京,同時(shí)在深圳、上海、山東、長春設(shè)立辦事處,可以更好的服務(wù)客戶。 希望我們的產(chǎn)品可以替代昂貴的進(jìn)口產(chǎn)品,讓我們的產(chǎn)品在客戶手中發(fā)揮作用,客戶可以體驗(yàn)到高性價(jià)比。 我們也會不斷豐富產(chǎn)品的種類,同時(shí)要追求更高的產(chǎn)品質(zhì)量和高品質(zhì)服務(wù),與用戶共同成長,為中國光學(xué)事業(yè)的進(jìn)步,貢獻(xiàn)一份力量。

主要產(chǎn)品:

l  光學(xué)元件(標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)鏡片、高功率激光窗口鏡片、定制光學(xué)元件、偏振元件)

l  英國ULO CO2紅外光學(xué)材料、鏡片、光學(xué)器件

l  光機(jī)械部件(壓電電控平臺,光學(xué)防震桌,光學(xué)調(diào)整架,手動位移臺,光機(jī)組件,光橋系統(tǒng))

l  全系列高品質(zhì)工業(yè)成像鏡頭(定焦/遠(yuǎn)心/線掃/變焦變倍/特殊定制鏡頭)、照明光源

l  光學(xué)測量儀器

Ø  德國MarOpto- 輪廓儀、干涉儀(傾斜波干涉儀、斐索干涉儀、動態(tài)干涉儀、干涉測量軟件、斷面檢測、表面檢測)

Ø  德國Dioptic- ARGOS 表面疵病檢測儀、光纖端面缺陷檢測

Ø  日本壺坂Tsubosaka-鏡頭/相機(jī)鬼影、雜散光測試系統(tǒng);可調(diào)色溫、亮度光源;鏡頭焦點(diǎn)偏差、光圈、閃光燈、快門測量、手機(jī)防抖測試系統(tǒng);太陽燈

Ø  美國 Bristol- 非接觸式測厚儀

Ø  美國Optometrics- 衍射光柵、分光器件、線柵偏振片、Minichrom™ 單色儀等

Ø  德國Artifex-光功率計(jì)、跨阻抗放大器、門控積分放大器、LIV激光二極管和LED特性測試系統(tǒng)、積分球、激光二極管驅(qū)動器

Ø  波蘭inframet-可見光電視相機(jī)測試系統(tǒng)(TVT)、紅外熱像儀測試系統(tǒng)(DTLAFT、SAFT)、夜視儀測試系統(tǒng)(NVT、NVS、NVB)、激光測距機(jī)測試系統(tǒng)(LT、LTF、LTE)、二代像管像增強(qiáng)器測試系統(tǒng)(ITS-IITS-P、ITS-R)、條紋管測試系統(tǒng)(SPT、STT)、多傳感器測試系統(tǒng)(JT、MS)、被動式THz成像儀測試系統(tǒng)(THP)、短波成像儀測試系統(tǒng)(ST)、紫外成像儀測試系統(tǒng)(UT)以及紅外熱像儀計(jì)算機(jī)模擬器(Simterm)等

Ø  美國Headwall -高光譜成像、拉曼光譜儀、衍射光學(xué)元件

Ø  其他-SPF防曬指數(shù)測試儀;大氣測量輻射計(jì)/光度計(jì);Mini-Chrom單色儀;激光二極管測試分析系統(tǒng);積分球;激光功率探測器;光伏測試太陽模擬器;固態(tài)光電倍增管等等

 

 

標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)鏡片,高功率激光窗口鏡片,定制光學(xué)元件,偏振元件,英國ULO

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
工作范圍在可見光、近紅外以及短波紅外的電子成像探測器生成的二維電子圖像在工業(yè)、國防、安全、科研、環(huán)保、醫(yī)療等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測器幾乎全部基于硅材料的技術(shù):彩色或者單色制式的CCD、 CMOS. ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探測器的工作波段只局限于可見光波段而單色VIS/NIR探測器的工作波段則可以達(dá)到1000nm。
InGaAs成像探測器的工作范圍在SWIR波段:非制冷類型工作在900nm-1700nm;制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探測器在紅外波段(可到1300nm或者更長)具有更高的靈敏度,目前是市場上的新技術(shù)。
VIT測試系統(tǒng)是一個(gè)可擴(kuò)展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統(tǒng),支持硅/黑硅/InGaAs成像探測器所有重要參數(shù)的測試。
<strong>可見光-短波紅外焦平面測試系統(tǒng)</strong>

VIT測試系統(tǒng)組成VIT測試系統(tǒng)測試功能

  • 雙光源

  • 探測器控制器

  • 圖像采集卡

  • PC組

  • 測試軟件(DIP控制軟件,CON控制軟件,VITO測試軟件)

  • 輻射參數(shù):相對光譜靈敏度,量子效率,靈敏度,動態(tài)范圍,線性度,NEI,固定圖形噪聲,非均勻性,信噪比,壞像素?cái)?shù), 3D噪聲

  • 成像參數(shù):調(diào)至傳遞函數(shù), 分辨率, 最小可分辨對比度, 視場






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