布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)PI 88

布魯克Hysitron PI 88是布魯克公司生產(chǎn)的新一代原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)，其最大特點(diǎn)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)高度模塊化，后期可在已有系統(tǒng)上自行配置并拓展其他功能。

該系統(tǒng)通過視頻接口將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷-位移曲線）與相應(yīng)SEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步，允許研究者在整個(gè)測試過程中極其精確地定位壓頭并對變形過程成像。解決了傳統(tǒng)納米壓痕方法，只能通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描成像觀察壓痕前后的形貌變化，因無法監(jiān)測中間過程，而最終對載荷-位移曲線上的一些突變無法給出解釋甚至錯(cuò)誤解釋的問題。

PI 88安裝于SEM，可以精確施加載荷，檢測位移，在電鏡下進(jìn)行壓痕、壓縮、彎曲、劃痕、拉伸和疲勞等力學(xué)性能測試；此外，通過升級電學(xué)、加熱模塊，還可研究材料在力、電、熱等多場耦合條件下結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系。

布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng) PI 85L

布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng)，利用SEM的高分辨率，可以直接觀測整個(gè)材料動(dòng)態(tài)變化的過程。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化，中間過程無法觀察到，載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋，甚至單從曲線分析會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的解釋。

PI 85L安裝于電鏡，可以精確施加載荷，檢測位移，在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮、加熱、電學(xué)和劃痕測試，可以借助電鏡的高分辨率，觀測并記錄整個(gè)材料測試過程，觀測材料在力下發(fā)生的動(dòng)態(tài)變化，如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。

PI 85L采用Hysitron技術(shù)三板電容傳感器，具備載荷和位移同時(shí)監(jiān)測和驅(qū)動(dòng)的功能。具備業(yè)界的精度，重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點(diǎn)。PI 85L擁有多種特色測試功能模塊可供選擇，如動(dòng)態(tài)力學(xué)測試、MEMS加熱、拉伸測試、電學(xué)測試、納米劃痕等功能模塊。

布魯克高精度納米力學(xué)測試系統(tǒng)TI Premier

定量的納米力學(xué)

      布魯克專門設(shè)計(jì)的Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測試儀器在緊湊平臺(tái)中提供了業(yè)界的、定量納米力學(xué)表征技術(shù)。以被廣泛驗(yàn)證的Hystrion 技術(shù)為基礎(chǔ)，TI Premier 提供了納米力學(xué)和摩擦學(xué)測試的工具包?？梢圆捎肨I Premier 的多種基本配置完成常規(guī)的測量到高ji的研究，同時(shí)多樣化的升級選項(xiàng)可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。

原位掃描探針顯微鏡成像                                

原位形貌成像，大限度地測試定位準(zhǔn)確性            

納米壓痕

定量模量、硬度、蠕變、斷裂韌性和應(yīng)力松弛表征

納米劃痕

納米劃痕、抗劃傷性、薄膜附著力和摩擦系數(shù)測試

納米磨損

在良好控制的摩擦學(xué)條件下，量化磨損量和磨損率

布魯克Hysitron TI Premier高精度納米力學(xué)測試系統(tǒng)是布魯克公司研制的自動(dòng)化、高通量測試儀器，通過納米級位成像，可實(shí)現(xiàn)壓痕、劃痕和磨損過程的納米尺度原位可視化表征。Hysitron（海思創(chuàng)）應(yīng)用其工藝的ZG技術(shù)“三板電容傳導(dǎo)”，從源頭上保證了儀器穩(wěn)定性和靈敏度。使用Hysitron（海思創(chuàng)）納米力學(xué)材料檢測系統(tǒng)通過探針可以獲得材料微區(qū)的硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、磨損率、斷裂剛度、失效、蠕變、粘附力（結(jié)合力）等力學(xué)數(shù)據(jù)。后續(xù)可選擇升級模塊有高溫臺(tái)、電學(xué)性能測試、濕度控制模塊、冷臺(tái)、與拉曼連用等。不僅在微納米水平上開展力學(xué)行為特性的研究，還可以進(jìn)行納米尺寸上的機(jī)械加工。