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ARF射頻芯片 HAST測(cè)試 試驗(yàn)箱

F射頻芯片的HAST測(cè)試（Highly Accelerated Stress Test，高加速應(yīng)力測(cè)試）是一種用于評(píng)估芯片在惡劣環(huán)境條件下性能和可靠性的測(cè)試方法。

ARF射頻芯片 HAST測(cè)試 試驗(yàn)箱 測(cè)試目的

HAST測(cè)試主要用于模擬RF射頻芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的高溫、高濕等惡劣環(huán)境，以加速芯片的老化過程，從而更早地暴露出潛在的問題。通過測(cè)試，可以評(píng)估芯片在高溫高濕環(huán)境下的穩(wěn)定性、檢測(cè)可能由高溫高濕引起的問題，并驗(yàn)證芯片的可靠性。

ARF射頻芯片 HAST測(cè)試 試驗(yàn)箱 產(chǎn)品特點(diǎn)

1.HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)采用較新優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方，做工精細(xì)

2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)

3.大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng),全自動(dòng)補(bǔ)水，試驗(yàn)不中斷

4.與試樣數(shù)量相吻合的試樣信號(hào)施加端了

5.采用觸摸屏，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能

6.采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)

7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長(zhǎng)

8.多項(xiàng)安全保護(hù)措施,故障報(bào)警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。

ARF射頻芯片 HAST測(cè)試 試驗(yàn)箱

測(cè)試目的：評(píng)估測(cè)試樣品的耐濕性，通過增加測(cè)試室中的水蒸氣壓力來加速水分滲入樣品中。

作為一種高加速電子元器件可靠性測(cè)試方法，Air-HAST通過模擬產(chǎn)品在環(huán)境下的性能表現(xiàn)，來評(píng)估其可靠性和壽命。

ARF射頻芯片 HAST測(cè)試 試驗(yàn)箱

滿足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 規(guī)范要求