英國(guó)IDB Systems電荷衰減計(jì)靜電儀器測(cè)試儀 ID-917 特點(diǎn)介紹

ID917 電荷衰減計(jì)是一種通用靜電儀器，用于評(píng)估薄膜和塑料的電荷衰減特性。

只需將測(cè)試樣品裝入兩部分樣品架中，然后將其裝入儀器中，儀器即可在獨(dú)立配置下運(yùn)行，或通過 USB 接口與 PC 或筆記本電腦配合使用，

以 1kV 或 5kV 的正或負(fù)測(cè)試電壓測(cè)試薄膜 - 所有電壓均可由用戶選擇。

然后，儀器將在 TFT 顯示屏上繪制衰減時(shí)間 - 以及計(jì)算機(jī)（如果已連接） - 打印測(cè)量到 50% 放電或 90% 放電的兩個(gè)預(yù)設(shè)測(cè)量點(diǎn)之一的衰減時(shí)間。

這些放電點(diǎn)也可以由客戶設(shè)置為他們選擇的點(diǎn)之一。

圖形顯示器以 10ms、100ms、1s 到 10s 的間隔實(shí)時(shí)打印靜電場(chǎng)強(qiáng)度的放電曲線，間隔由用戶選擇。

測(cè)試結(jié)果可以存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)上進(jìn)行離線分析。

英國(guó)IDB Systems電荷衰減計(jì)靜電儀器測(cè)試儀 ID-917 規(guī)格參數(shù)

在廣受歡迎的ID-489電荷衰減測(cè)試儀取得成功的基礎(chǔ)上，ID-917是一款基于微處理器的新一代測(cè)試儀，用于通過測(cè)量材料的電荷衰減時(shí)間來評(píng)估其抗靜電性能。

ID-917總體上符合MIL-STD-30 10C中描述的測(cè)試方法4046以及IST40.2（0 1）和BS7506中描述的方法。

這些材料的抗靜電性能取決于其表面靜電電荷的消散速率，這在很大程度上由表面電阻決定，對(duì)于許多材料，可以使用表面電阻測(cè)試儀（例如ID-482A或ID-914）進(jìn)行測(cè)量。