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硅片 測(cè)試片 正片 各種規(guī)格、工藝定制

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 冠乾科技
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2024/7/30 8:48:39
  • 訪問次數(shù) 292

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國(guó)上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個(gè)平臺(tái),以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計(jì)等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測(cè)厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測(cè)量?jī)x
Wafer 粗糙度檢測(cè)
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測(cè)試
掃描探針顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測(cè)試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

供貨周期 一個(gè)月 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,綜合

硅片 測(cè)試片 正片 各種規(guī)格、工藝定制

所屬品牌:冠乾科技

耗材名稱:硅片、測(cè)試片、正片各種規(guī)格、工藝定制。

尺寸

等級(jí)

直徑50~450 mm

1.產(chǎn)品級(jí)拋光晶圓片(Prime Wafer)-可旨定TTV、顆粒度、電阻值及厚度等

2.超潔凈晶圓(LowPaticle Wafer)

3.再生晶圓(Reclaim Wafer)

4.裸片(Coinroll Wafer)

品牌

SOI Wafer、外延片(Epi Wafer)、玻璃晶圓(GlassWafer)、石英晶圓(Quartz Wafer)、化合物晶圓(Compound Wafer)

特殊晶圓

SOI Wafer、外延片(Epi Wafer)、玻璃晶圓(GlassWafer)、石英晶圓(Quartz Wafer)、化合物晶圓(Compound Wafer)

其他

根據(jù)客戶需求可訂制Haze度、雷射刻碼、晶向、Notch方位、 面狀態(tài)、金屬污染等規(guī)格






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