GSZ-RTS-4 四探針檢測(cè)儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京恒奧德儀器儀表有限公司
- 品牌 恒奧德
- 型號(hào) GSZ-RTS-4
- 產(chǎn)地 北京恒奧德儀器儀表有限公司
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/4/16 8:56:13
- 訪問(wèn)次數(shù) 1668
聯(lián)系方式:高經(jīng)理15010245973,18911282105 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
液氮治療儀/污垢熱阻測(cè)試儀/電測(cè)水位計(jì)/空盒氣壓表/污染數(shù)測(cè)定儀/薄膜過(guò)濾器/紫外輻照計(jì)/PH計(jì)/紫外分析儀/石油合成液抗乳化檢測(cè)儀
四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/單測(cè)四探針檢測(cè)儀(接電腦,含自動(dòng)測(cè)試臺(tái))型號(hào):GSZ-RTS-4(SDY-4替代)GSZ-RTS-4型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而的,用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、度、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等優(yōu)點(diǎn)。
GSZ-RTS-4型四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)行各種數(shù)據(jù)分析
參數(shù):
測(cè)量范圍 | 電阻率:0.001~200Ω.cm(可擴(kuò)展); 方塊電阻:0.01~2000Ω/□(可擴(kuò)展); 電導(dǎo)率:0.005~1000 s/cm; 電阻:0.001~200Ω.cm; |
可測(cè)晶片直徑 | 140mmX150mm(配S-2A型測(cè)試臺(tái)); 200mmX200mm(配S-2B型測(cè)試臺(tái)); 400mmX500mm(配S-2C型測(cè)試臺(tái)); |
恒源 | 電量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔,各檔電連續(xù)可調(diào) |
數(shù)字電壓表 | 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; 輸入阻抗:>1000MΩ; 度:±0.1% ; 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;性、量程自動(dòng)顯示; |
四探針探頭基本標(biāo) | 間距:1±0.01mm; 針間緣電阻:≥1000MΩ; 機(jī)械游移率:≤0.3%; 探針:碳化鎢或速鋼Ф0.5mm; 探針壓力:5~16 牛頓(總力); |
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) | (見(jiàn)探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差 ( 按JJG508-87行) | 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差 | (用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5% |
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 | ≤5% |
計(jì)算機(jī)通訊接口 | 并口 |
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 | 溫度:23±2℃; 相對(duì)濕度:≤65%; 無(wú)頻干擾; 無(wú)強(qiáng)光直射; |