PZ-WLI-150 三維光學形貌儀

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公司名稱 北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司
品牌 品智創(chuàng)思
型號 PZ-WLI-150
產地
廠商性質 生產廠家
更新時間 2025/7/2 22:13:54
訪問次數 1002

產品標簽

材料表面三維光學形貌儀科研級三維光學形貌儀全自動三維光學形貌儀三維光學形貌儀粗糙度測量

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北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司(以下簡稱品智創(chuàng)思)，始終專注于精密影像測量領域的影像分析及測量軟件的設計與研發(fā)。品智創(chuàng)思公司從事表面科學、分析儀器、計量檢測設備及實驗室儀器系統(tǒng)集成商;致力于為工業(yè)制造和科研領域用戶提供顯微分析，圖像分析，缺陷識別和檢驗, 無損探查, 品質管理, 計量，過程控制等專業(yè)檢測設備，依托強有力的技術資源及完善專業(yè)的售后服務與維修體系，向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務及全面地解決方案。

公司致力于提高工業(yè)產品的質量品質! 迄今為止，品智創(chuàng)思已為多家用戶提供產品檢測設備，用戶遍布機械、電子、醫(yī)療、軌道交通、汽車、航空、航天、研究所、計量站、等行業(yè)，為用戶提供的儀器和完善的解決方案，為用戶工作提供強有力的技術支持。

品智創(chuàng)思秉承“專注質量、誠信服務、立足創(chuàng)新、真誠合作”的理念，為您提供、多角度的服務。

北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司愿與您精誠合作，共拓美好未來。

展開

影像測量儀，光學顯微鏡，測量顯微鏡，試驗機，接觸角測量儀，表面張力儀，超景深顯微鏡，金相顯微鏡，投影測量儀，磨刀機顯微鏡

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產地類別	國產	應用領域	醫(yī)療衛(wèi)生,地礦,電子/電池,電氣,綜合

產品簡介：

三維光學形貌儀結合相移垂直掃描的前沿技術與顯微光干涉技術，不需要復雜光路調整程序，即可在非接觸、無破壞、普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測分析不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析，更可提供鏡面表面的納米級粗糙度和臺階高度分析
并追溯至IS0國際規(guī)范。三維光學形貌儀具有的測量能力，可在幾秒內就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數據，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低。

三維光學形貌儀

無論是拋光面，還是粗糙面，甚至是高透明材質(例如石英),只要有超過1%以上的反射率就能夠被檢測。適合各種材料與微元件表面特征和微尺寸檢測，應用領域包含:觸控面板(Touch Panel)
太陽能板(Solar Cell)
晶圓(Silicon Wafer or Sapphire Wafer)
光碟/硬碟( DVD Disk /Hard Disk)
微機電元件(MEMSComponents)
平面液晶顯示器(LCD)
高密度線路印刷電路板(HDIPCB)
IC封裝(IC Package)
精密微機械元件或模具(Micro MechanicalPartsorMode)以及其它材料分析與元件微表面研究。

三維光學形貌儀