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化工儀器網>產品展廳>半導體行業(yè)專用儀器>集成電路測試與分選設備>探針臺>GCP50 射頻探針

GCP50 射頻探針

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南京芯測軟件技術有限公司,專業(yè)打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產化改造,以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試,器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進供應商,以滿足國內用戶需求,開發(fā)半導體測試設備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務。

南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設備經銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設備包括:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業(yè)

 

 

 

 

探針臺,芯片ESD測試設備,TLP測試設備,CDM測試設備

優(yōu)勢特點:


自有的激光+水刀切割探針頭部技術優(yōu)良的HFSS仿真技術10年以上的阻抗匹配經驗
優(yōu)良的DC至110 GHz同軸提參技術業(yè)內頂配的測量儀表+建模人員團隊滿足工作溫度-55℃ ~ +125℃

可快速交付50、100、150、200和 250µm的傾斜探頭

可選擇鈹銅或鎳合金材料(推薦鎳合金)擁有超過100萬次的老化實驗



可兼容多家校準片或使用GCC校準片



GCP 50 射頻微波探針:

連接器接頭: 2.4mm母頭

針尖配置: GSG
針尖中心距:50~250um
針尖寬度: 28um
滑行距離: ≤30um


探針頭示意圖

射頻探針









產品有多個型號和不同中心間距可以選擇,詳細選型請聯(lián)系我們。


我們的射頻探測技術,用于表征射頻集成電路。 間距從 50 μm 到 250μm,可滿足您的多種測試需求。 使用在線設計捕獲表單,根據您的集成電路焊盤布局選擇射頻信號 (S)、邏輯 (L) 和電源 (P) 通道,構建您的探針。


注:商用探針尖射頻校準標準采用共面設計,包括不同類型的校準元件:開路、短路、負載和線路。 因此,可以進行各種類型的探頭尖部校準










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