300 kV冷凍透射電鏡 Krios G4 Cryo-TEM
- 公司名稱 賽默飛世爾科技（中國）有限公司
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/7/29 21:50:53
- 訪問次數(shù) 425
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
Thermo Scientific 這臺新型已獲獎Krios G4冷凍透射電子顯微鏡 (Cryo-TEM)可以使您在分子水平上地更簡單，更快以及更穩(wěn)定地揭示生命。 Krios G4 Cryo-TEM是同類產(chǎn)品種緊湊型的TEM。它由高度穩(wěn)定的 300 kV 透射電鏡平臺和行業(yè)自動上樣器（冷凍樣品自動操作裝置）組成。這使得Krios G4 Cryo-TEM非常適合自動化應用如 單顆粒分析 (SPA)， 冷凍電子斷層掃描 (cryo-ET) 和 和微晶電子衍射 (microED)。
通過對機械底座框架和設備外殼進行全面地重新設計，使得顯微鏡的高度降低至 3 m 以內(nèi)，適用于天花板高度為 3.04 m（約 10 ft）的實驗室，從而避免了昂貴的實驗室改造費用。內(nèi)置連通性設計確保整個工作流程穩(wěn)健無風險，包括從樣品制備和優(yōu)化到圖像采集和數(shù)據(jù)處理。
300 kV冷凍透射電鏡 Krios G4 Cryo-TEM以破紀錄的分辨率解析結(jié)構(gòu)
Krios G4 Cryo-TEM 配備以 Thermo Scientific E-CFEG ， Thermo Scientific Selectris 和 Selectris X 成像過濾器，以分辨率，速度及便捷性推動了冷凍電鏡的發(fā)現(xiàn)工作。
E-CFEG 是一種冷場發(fā)射槍，其具有的窄能散度可產(chǎn)生更高對比度的圖像并實現(xiàn)原子分辨率。這個附加元件使其可以有效地以 2.0 ? 或更小的分辨率解析結(jié)構(gòu)。
Selectris 成像過濾器提供穩(wěn)定性、便利性和性能。搭配以Thermo Scientific Falcon 4i 直接電子探測器，這兩個附加件使得可比上一代產(chǎn)品快達10倍的速度獲取更高質(zhì)量圖像。
發(fā)表在 Nature 雜志上的一篇文章詳細介紹了結(jié)構(gòu)生物學家如何使用配備了 Selectris 成像過濾器原型的 Krios Cryo-TEM，以分辨率研究蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)。獲得了儲鐵蛋白去鐵鐵朊 1.2 ? 分辨率的結(jié)構(gòu)和 1.7 ? 分辨率的 GABA A 型受體相關(guān)蛋白結(jié)構(gòu)，并在其蛋白關(guān)鍵部分獲得了更高的分辨率
使用 Thermo Scientific Krios G4 Cryo-TEM 以破紀錄的分辨率解析更多有機結(jié)構(gòu)。通過創(chuàng)新升級提高您實驗室的生產(chǎn)力和性能。
Human Technopole 建立了一套新的冷凍電子顯微鏡 (cryo-EM) 機構(gòu)，使科學界可以廣泛使用cryo-EM。這個先進的機構(gòu)配備了多種儀器，包括 Thermo Scientific Krios G4 Cryo-TEM、Glacios Cryo-TEM、Talos L120C TEM、Aquilos 2 Cryo-FIB 和 Spectra 300 S/TEM。
優(yōu)勢
300 kV冷凍透射電鏡 Krios G4 Cryo-TEM可更容易適配新建或者現(xiàn)有的實驗室。
重新設計的內(nèi)部底座框架和系統(tǒng)外殼將高度降至 3 m (10 ft) 以下，同時提高了系統(tǒng)性能并避免了昂貴的實驗室改造費用。
原子分辨率性能
選配的配備有Falcon 4i 直接電子探測器和 E-CFEG 冷場發(fā)射源的 Selectris X 成像過濾器可提高圖像對比度，以在更短時間內(nèi)使圖片達到更高分辨率。
通過軟件自動化實現(xiàn)生產(chǎn)力大化
高級性能監(jiān)控確保了自動化運行的最佳光學起點，并且 EPU 軟件能夠?qū)崿F(xiàn)網(wǎng)格自動化篩選、質(zhì)量監(jiān)控和數(shù)據(jù)管理。
工作流程連通性
上樣盒的設計，使其換樣簡單。這使得可以在配備有自動上樣器的TEM設備間輕松切換樣品。并配備Athena軟件用于管理實驗參數(shù)和數(shù)據(jù)。
主要特點
了解Falcon 4i 直接電子探測器對產(chǎn)能的影響，它比往代產(chǎn)品的曝光時間縮短了10倍。
無像差圖像移位 (AFIS) 是一種光學模式，可在不影響圖像質(zhì)量的情況下加快數(shù)據(jù)采集速度。AFIS 執(zhí)行大光束位移時不會產(chǎn)生離軸彗差和像散。
使用無邊緣效應成像 (FFI) 可在每個樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。 聽聽 FFI 如何幫助 Elizabeth Villa 博士實驗室的日常研究。
通過增強圖片采集設置的自動化，系統(tǒng)遠程監(jiān)控以優(yōu)化顯微鏡的使用，可提供質(zhì)量檢測的實時成像以及數(shù)據(jù)管理和項目監(jiān)管，實現(xiàn)對日常工作量大化。
可用于往代 Krios Cryo-TEM 的升級選項
電子源
E-CFEG：用于在真正原子分辨率下獲得更高對比度的低能散冷場發(fā)射槍
探測器和相機
Selectris X 成像過濾器： 適用于原子分辨率冷凍電鏡的零損能量過濾
Falcon 4i 直接電子探測器
Ceta-D microED 探測器
軟件和光學模塊
無邊緣效應成像 (FFI) 光學模塊
EPU Multigrid 軟件
EPU Quality Monitor 軟件
Krios G4
適用于 SPA 和基于結(jié)構(gòu)的藥物設計的制藥專用解決方案
使用 60°C 加熱消殺解決方案加速您的病原體研究
為您的實驗室提供適用于賽默飛世爾科技 Krios G4 冷凍透射電子顯微鏡 （cryo-TEM） 的新型 60°C加熱消殺解決方案。 該附件使得可在更高生物安全級別的封閉實驗室（例如 BSL3）中進行病原體研究和綜合儀器服務，讓您可以幫助世界變得更清潔、更安全和更健康。
性能數(shù)據(jù)
| 離子源 | X-FEG（亮度場發(fā)射槍）或低能散冷 FEG (E-CFEG) |
| 加速電壓 | 80-300 kV |
| 冷凍樣品自動上樣器 | 自動且無污染的盒式上樣（最多 12 個載網(wǎng)） |
| 溫度管理軟件 | 包括液氮自動填充和冷卻調(diào)度 |
| 透鏡 |
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| 載物臺 |
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| 成像 | 可改變放大倍數(shù)的無旋轉(zhuǎn)成像 |
| 先進的性能監(jiān)控 | 光學顯微鏡狀態(tài)自我評估與自動校準相結(jié)合，確保實驗在理想條件下進行 |
| 實驗室尺寸要求（長 × 寬 × 高） | 17’ × 22’ × 10’ |
| AFIS（無像差圖像位移） | 在載網(wǎng)孔之間移動時不會產(chǎn)生彗差，從而通過縮短松弛時間提高圖像產(chǎn)出 |
| FFI（無邊緣效應成像） | 通過對每個載網(wǎng)孔進行多次圖像采集從而提高圖像產(chǎn)出 |
| Thermo Scientific EPU 2 軟件 |
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| 附加組件 |
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| 探測器（選配） |
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| 能量過濾器（選配） |
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| 其它選項 |
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