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飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>粒度儀>Zeta電位儀/微電泳儀>BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀國(guó)產(chǎn)廠家供應(yīng)

BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀國(guó)產(chǎn)廠家供應(yīng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 丹東百特儀器有限公司
  • 品牌 Bettersize/百特
  • 型號(hào) BeNano 180 Zeta Max
  • 產(chǎn)地 中國(guó)丹東
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2025/6/20 19:12:31
  • 訪問(wèn)次數(shù) 2064

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時(shí)間:
創(chuàng)新:
2025-01-01
BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù),可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。

丹東百特儀器有限公司是中國(guó)粒度儀器制造商和粒度測(cè)試技術(shù)研發(fā)基地,是國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)、國(guó)家專精特新“小巨人”企業(yè)、遼寧省軟件企業(yè)、遼寧省守合同重信譽(yù)企業(yè)、中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)常務(wù)理事單位和測(cè)試專業(yè)委員會(huì)副主任單位。


主要產(chǎn)品有激光粒度分析儀、納米粒度及Zeta電位分析儀、顯微圖像粒度粒形分析儀、粉體特性測(cè)試儀和環(huán)境空氣監(jiān)測(cè)儀等5個(gè)系列共34個(gè)品種,擁有100多項(xiàng)軟件著作權(quán)等知識(shí)產(chǎn)權(quán)。產(chǎn)品不僅銷往全國(guó)34個(gè)省市區(qū),還出口到德國(guó)、韓國(guó)、美國(guó)、俄羅斯、巴西、日本等九十多個(gè)國(guó)家和地區(qū),在制藥、電池材料、化工、磨料、涂料、建材、非金屬材料和金屬粉的生產(chǎn)、應(yīng)用和研究領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用,產(chǎn)品的技術(shù)性能和質(zhì)量居較高水平。


粒度儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,沉降粒度儀,圖像粒度分布儀,粉體綜合特性測(cè)試儀,環(huán)境顆粒物采樣器

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的*光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù),可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。

 

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀

 

基本性能指標(biāo)

 

 

粒徑檢測(cè)(動(dòng)態(tài)光散射法)

 粒徑范圍 0.3 nm – 15 μm
 最小樣品量  3 μL
 檢測(cè)角度  173 °+90 ° + 11.2°
 分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

沉降法粒度測(cè)試

 檢測(cè)方法  沉降法
 粒徑范圍  1μm-50μm
 檢測(cè)角度  0°
樣品量  1-3ml

Zate電位測(cè)試

 Zeta范圍  無(wú)實(shí)際限制
電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
 電導(dǎo)率范圍  0 - ≥270 mS/cm
 Zeta測(cè)試粒徑范圍 1 nm – >120 μm  

分子量測(cè)試

 

 分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

微流變測(cè)試

 

 測(cè)試能力  均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

趨勢(shì)測(cè)試

 

 

 模式  時(shí)間和溫度

 

濃度檢測(cè)

 檢測(cè)方法 LEDLS
 測(cè)試能力  體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度

折光率測(cè)試

 

檢測(cè)方法 楔形池樣品折射(無(wú)需示蹤粒子)
 檢測(cè)角度  0°
 RI范圍  1.2-1.6
 精度  優(yōu)于0.1%
最小樣品量  380 μL

系統(tǒng)參數(shù)

 

溫控范圍 -15°C - 120°C
 冷凝控制  干燥空氣或者氮?dú)?/span>
激光器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm(不同波長(zhǎng)激光器可選)
相關(guān)器  快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍
 檢測(cè)器  APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS
 光強(qiáng)控制  0.0001%  - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng)    


 






檢測(cè)參數(shù)

 

 

動(dòng)態(tài)光散射

 

●流體力學(xué)尺寸 Dh

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 kd

●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

●計(jì)算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J

 

電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率

 

透射

●透射濁度

● 顆粒物濃度

●液體折射率

●沉降法粒度和粒度分布測(cè)試

 

趨勢(shì)測(cè)試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試

 

靜態(tài)光散射

● 絕對(duì)分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A2

 

 

選配件
 

動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式

BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,依次流出。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào),并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào),得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀


BAT-1自動(dòng)滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試,具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

           

 

BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

 

 

 

 



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