核心測(cè)量原理與高精度保障

電鍍膜厚儀采用X射線熒光（XRF）和電磁感應(yīng)雙技術(shù)融合方案，適用于不同基材與鍍層類(lèi)型。XRF技術(shù)通過(guò)發(fā)射X射線激發(fā)鍍層原子，檢測(cè)熒光能量譜以分析鍍層元素成分及厚度，分辨率達(dá)0.01μm，尤其適合多層鍍層（如鎳上鍍金）的無(wú)損檢測(cè)；電磁感應(yīng)技術(shù)則基于渦流效應(yīng)，對(duì)非磁性金屬基材（如銅、鋁）上的導(dǎo)電鍍層（如鋅、鉻）進(jìn)行快速測(cè)量，精度±0.1μm。設(shè)備內(nèi)置溫度補(bǔ)償算法，消除環(huán)境波動(dòng)對(duì)測(cè)量的影響，并通過(guò)ISO 3497、ASTM B568等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證，確保檢測(cè)結(jié)果可追溯至國(guó)家計(jì)量院標(biāo)準(zhǔn)，滿(mǎn)足汽車(chē)、航空航天等制造領(lǐng)域的嚴(yán)苛質(zhì)量要求。