Xi1M 德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀
| 參考價(jià) | ￥ 1500 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 高斯摩(成都)國際貿(mào)易有限公司
- 品牌 Optris/德國歐普士
- 型號 Xi1M
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2025/4/18 15:36:42
- 訪問次數(shù) 159
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主要經(jīng)營光學(xué)設(shè)備、電子計(jì)測、科學(xué)儀器、機(jī)械加工設(shè)備、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、PC周邊用品、作業(yè)工具用品、電源、化學(xué)用品、FA自動(dòng)化上萬種產(chǎn)品的銷售。
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 接觸式,便攜式,在線式,固定式,非接觸式,手持式 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 1萬-5萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀 Xi1M
德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀 Xi1M
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進(jìn)行非接觸熱成像。它能夠精確測量熱金屬、鋼鐵、陶瓷和半導(dǎo)體的表面溫度。憑借自主熱測量能力和電動(dòng)對焦功能，該熱像儀在工業(yè)環(huán)境中提供了可靠性和便利性，無需額外的硬件。它配備了以太網(wǎng)、USB 接口，以及模擬和數(shù)字過程接口，實(shí)現(xiàn)了與控制系統(tǒng)和機(jī)械設(shè)備的無縫集成。
工業(yè)以太網(wǎng)短波紅外熱像儀
寬測量范圍從 450°C 到 1800°C，無需子范圍
尺寸小且堅(jiān)固，配備電動(dòng)對焦
高動(dòng)態(tài) CMOS 探測器，分辨率為 396 x 300 像素
自主運(yùn)行，帶自動(dòng)熱點(diǎn)查找和直接模擬或報(bào)警輸出，并具有多種現(xiàn)場總線通信選項(xiàng)
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，在非接觸熱成像領(lǐng)域提供了創(chuàng)新、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠和高精度的性能，專門用于測量具有挑戰(zhàn)性的物體表面溫度。設(shè)計(jì)在短波紅外范圍內(nèi)工作（波長：0.85 – 1.1 μm），這款前視紅外熱像儀專為捕捉熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導(dǎo)體的精確表面溫度分析而設(shè)計(jì)。為了滿足各行業(yè)的嚴(yán)格要求，Optris Xi 1M 提供了寬廣的高溫測量范圍、準(zhǔn)確性和可定制的視場配置。
| 型號 | Xi1M 7°x5° | Xi1M 14°x10° | Xi1M 28°x21° | Xi1M 7°x5° CF |
| 探測器 | ||||
| 光學(xué)分辨率 | 全分辨率：396×300 像素（以太網(wǎng)）; 子幀模式：132×100 像素（USB，自主模式）; 線掃描：396×8 像素（以太網(wǎng)）; 線掃描：396×1 像素（以太網(wǎng)，自主模式） | |||
| 像素間距 | 15 µm | |||
| 探測器 | CMOS | |||
| 光譜范圍 | 高溫測量: 0.85 – 1.1 µm | |||
| 光學(xué)濾鏡 | 無 | |||
| 幀率 | 20 Hz | |||
| 光學(xué) | ||||
| 視場角 | 7°x5° (396×300 像素) | 14°x10° (396×300 像素) | 28°x21° (396×300 像素) | 7°x5° CF (396×300 像素) |
| 焦距 [毫米] | 50 | 25 | 12 | 50 |
| F值 | 2.8 | 1.8 | 2 | 2.8 |
| 光學(xué)分辨率 | 806:1 | 401:1 | 195:1 | 830:1 |
| 到目標(biāo)的最小距離 | 800 mm | 300 mm | 300 mm | 500 mm |
| 可更換光學(xué)器件 | No | |||
許多由非光亮材料組成的測量物體在長波紅外光譜范圍內(nèi)顯示出較高且相對恒定的發(fā)射率，而這些材料在長波紅外波段的低發(fā)射率會(huì)導(dǎo)致測量結(jié)果的不穩(wěn)定和不可靠。短波 Xi 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的最高發(fā)射率相匹配，從而簡化了遠(yuǎn)程溫度測量。此外，根據(jù)普朗克輻射定律，在短波范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射顯著增加，因此線性發(fā)射率問題對短波溫度測量結(jié)果的重復(fù)性影響較小。因此，在考慮到較高的溫度測量范圍時(shí)，對高溫光亮材料的非接觸溫度測量應(yīng)盡可能使用短波段。
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