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校準(zhǔn)檢測(cè) 做設(shè)備檢驗(yàn)校準(zhǔn)計(jì)量器具年審?fù)庑5臋C(jī)構(gòu)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 華盛檢測(cè)
  • 品牌
  • 型號(hào) 校準(zhǔn)檢測(cè)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2025/4/23 10:53:43
  • 訪問(wèn)次數(shù) 360

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實(shí)驗(yàn)室三方檢測(cè)

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn)

做設(shè)備檢驗(yàn)校準(zhǔn)計(jì)量器具年審?fù)庑5臋C(jī)構(gòu)

干涉儀校準(zhǔn)規(guī)程

一、目的

確保干涉儀測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,使其滿足使用要求并符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。

二、適用范圍

適用于[具體型號(hào)或類型]干涉儀的校準(zhǔn) 。

三、校準(zhǔn)依據(jù)

[列出所遵循的國(guó)家、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或儀器制造商提供的校準(zhǔn)指南等]

四、校準(zhǔn)環(huán)境條件

1. 溫度:20℃±2℃,在校準(zhǔn)過(guò)程中溫度變化每小時(shí)不超過(guò)1℃。溫度波動(dòng)會(huì)影響光學(xué)元件的尺寸和激光波長(zhǎng),進(jìn)而導(dǎo)致測(cè)量誤差??衫每照{(diào)、恒溫箱等設(shè)備維持穩(wěn)定溫度,并在測(cè)量區(qū)域放置多個(gè)溫度傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

2. 濕度:40% - 60%RH,濕度變化每小時(shí)不超過(guò)5%RH。高濕度易使光學(xué)元件表面產(chǎn)生水汽凝結(jié)或腐蝕,影響光學(xué)性能??赏ㄟ^(guò)除濕機(jī)、加濕器和濕度傳感器來(lái)調(diào)節(jié)和監(jiān)控。

3. 振動(dòng):振動(dòng)幅值小于[X]μm,頻率小于[X]Hz 。外界振動(dòng)會(huì)使干涉條紋不穩(wěn)定,影響測(cè)量精度。將干涉儀放置在隔振平臺(tái)上,并遠(yuǎn)離振動(dòng)源,如大型機(jī)械設(shè)備、電梯等。

4. 潔凈度:工作環(huán)境應(yīng)保持清潔,避免灰塵、顆粒等污染物進(jìn)入干涉儀內(nèi)部污染光學(xué)元件??稍诃h(huán)境中安裝空氣凈化設(shè)備,并定期清潔工作區(qū)域。

做設(shè)備檢驗(yàn)校準(zhǔn)計(jì)量器具年審?fù)庑5臋C(jī)構(gòu)


五、校準(zhǔn)設(shè)備及工具

1. 標(biāo)準(zhǔn)件:具有高精度和可溯源性的標(biāo)準(zhǔn)量塊、標(biāo)準(zhǔn)平面反射鏡、標(biāo)準(zhǔn)球面反射鏡等,其精度等級(jí)應(yīng)高于被校準(zhǔn)干涉儀的精度要求。例如,校準(zhǔn)測(cè)量長(zhǎng)度的干涉儀,使用的標(biāo)準(zhǔn)量塊精度等級(jí)要達(dá)到納米級(jí)。

2. 輔助工具:無(wú)塵擦拭布、無(wú)水乙醇、鏡頭紙用于清潔光學(xué)元件;精密調(diào)整架用于固定和調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)件與干涉儀的相對(duì)位置;光功率計(jì)用于檢測(cè)激光光源的光功率 。

六、校準(zhǔn)人員要求

校準(zhǔn)人員需經(jīng)過(guò)專業(yè)培訓(xùn),熟悉干涉儀的工作原理、操作方法和校準(zhǔn)流程,具備相關(guān)的計(jì)量知識(shí)和技能,并持有相應(yīng)的計(jì)量校準(zhǔn)資質(zhì)證書。

七、校準(zhǔn)項(xiàng)目及方法

做設(shè)備檢驗(yàn)校準(zhǔn)計(jì)量器具年審?fù)庑5臋C(jī)構(gòu)

(一)外觀及功能檢查

1. 外觀檢查:目力觀察干涉儀外殼應(yīng)無(wú)破損、變形、劃痕、銹蝕等缺陷;顯示屏顯示清晰,無(wú)缺劃、亮點(diǎn)等問(wèn)題;操作按鍵功能正常,無(wú)卡滯、失靈現(xiàn)象;各接口連接正常,無(wú)松動(dòng)、損壞。

2. 功能檢查:接通電源,開啟干涉儀,檢查儀器自檢功能是否正常;按照儀器操作手冊(cè),依次測(cè)試干涉儀的測(cè)量模式切換、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、數(shù)據(jù)傳輸、參數(shù)設(shè)置等功能,確認(rèn)各功能均能正常實(shí)現(xiàn) 。

(二)激光波長(zhǎng)校準(zhǔn)

1. 參考標(biāo)準(zhǔn)選擇:選用經(jīng)過(guò)計(jì)量校準(zhǔn)且具有溯源性的波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)器,其波長(zhǎng)不確定度應(yīng)滿足校準(zhǔn)要求。

2. 校準(zhǔn)步驟:將波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)器與干涉儀的激光輸出端口進(jìn)行適配連接;啟動(dòng)干涉儀和波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)器,待設(shè)備穩(wěn)定后,在干涉儀上設(shè)置波長(zhǎng)測(cè)量功能;記錄干涉儀測(cè)量得到的激光波長(zhǎng)值,并與波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)器的標(biāo)稱值進(jìn)行對(duì)比;若測(cè)量值與標(biāo)稱值的偏差超出允許范圍,按照干涉儀的操作手冊(cè),通過(guò)調(diào)整激光光源的相關(guān)參數(shù)(如電流、溫度等)對(duì)波長(zhǎng)進(jìn)行校準(zhǔn),使測(cè)量值與標(biāo)稱值的偏差在允許范圍內(nèi) 。

(三)測(cè)量長(zhǎng)度示值誤差校準(zhǔn)

1. 標(biāo)準(zhǔn)量塊準(zhǔn)備:選取一組不同長(zhǎng)度規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)量塊,量塊的長(zhǎng)度范圍應(yīng)覆蓋干涉儀的常用測(cè)量范圍,且量塊的精度等級(jí)滿足校準(zhǔn)要求。例如,對(duì)于測(cè)量范圍為0 - 100mm的干涉儀,可選擇長(zhǎng)度為10mm、25mm、50mm、75mm、100mm的標(biāo)準(zhǔn)量塊。

2. 校準(zhǔn)步驟:將干涉儀的測(cè)量頭與標(biāo)準(zhǔn)量塊的一端接觸,確保接觸良好且測(cè)量方向正確;在干涉儀上設(shè)置測(cè)量長(zhǎng)度功能,并進(jìn)行測(cè)量;記錄干涉儀測(cè)量得到的長(zhǎng)度值,并與標(biāo)準(zhǔn)量塊的標(biāo)稱長(zhǎng)度值進(jìn)行對(duì)比;計(jì)算測(cè)量示值誤差,公式為:示值誤差 = 測(cè)量值 - 標(biāo)稱值;按照上述步驟,依次對(duì)不同長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)量塊進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算示值誤差;繪制示值誤差與測(cè)量長(zhǎng)度的關(guān)系曲線,分析示值誤差是否在允許范圍內(nèi) 。若超出允許范圍,可通過(guò)軟件修正或調(diào)整干涉儀的光路系統(tǒng)、測(cè)量算法等進(jìn)行校準(zhǔn)。

(四)測(cè)量重復(fù)性校準(zhǔn)

1. 選擇測(cè)量點(diǎn):在干涉儀的測(cè)量范圍內(nèi),選擇一個(gè)具有代表性的測(cè)量點(diǎn),例如對(duì)于測(cè)量長(zhǎng)度的干涉儀,可選擇50mm的位置作為測(cè)量點(diǎn)。

2. 校準(zhǔn)步驟:在選定的測(cè)量點(diǎn)上,使用干涉儀進(jìn)行連續(xù)n次(一般n≥10)測(cè)量,每次測(cè)量后記錄測(cè)量值;計(jì)算測(cè)量重復(fù)性,公式為:測(cè)量重復(fù)性 = (單次測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)偏差/測(cè)量平均值)×100% ,其中單次測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)偏差按照貝塞爾公式計(jì)算;將計(jì)算得到的測(cè)量重復(fù)性與儀器的技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行對(duì)比,判斷測(cè)量重復(fù)性是否符合要求。若不符合要求,檢查干涉儀的穩(wěn)定性、測(cè)量環(huán)境是否存在干擾等因素,并進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整和校準(zhǔn) 。

(五)角度測(cè)量示值誤差校準(zhǔn)(適用于具有角度測(cè)量功能的干涉儀)

1. 標(biāo)準(zhǔn)角度塊準(zhǔn)備:選用一組不同角度規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)角度塊,角度塊的角度范圍應(yīng)覆蓋干涉儀的角度測(cè)量范圍,且角度塊的精度等級(jí)滿足校準(zhǔn)要求。

2. 校準(zhǔn)步驟:將標(biāo)準(zhǔn)角度塊放置在干涉儀的角度測(cè)量工作臺(tái)上,調(diào)整角度塊的位置和方向,使干涉儀能夠準(zhǔn)確測(cè)量角度;在干涉儀上設(shè)置角度測(cè)量功能,并進(jìn)行測(cè)量;記錄干涉儀測(cè)量得到的角度值,并與標(biāo)準(zhǔn)角度塊的標(biāo)稱角度值進(jìn)行對(duì)比;計(jì)算角度測(cè)量示值誤差,公式為:示值誤差 = 測(cè)量值 - 標(biāo)稱值;按照上述步驟,依次對(duì)不同角度的標(biāo)準(zhǔn)角度塊進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算示值誤差;分析角度測(cè)量示值誤差是否在允許范圍內(nèi)。若超出允許范圍,可通過(guò)調(diào)整干涉儀的角度測(cè)量光路、校準(zhǔn)角度測(cè)量算法等進(jìn)行校準(zhǔn) 。

(六)平面度測(cè)量示值誤差校準(zhǔn)(適用于具有平面度測(cè)量功能的干涉儀)

1. 標(biāo)準(zhǔn)平面反射鏡準(zhǔn)備:選用高精度的標(biāo)準(zhǔn)平面反射鏡,其平面度誤差應(yīng)遠(yuǎn)小于干涉儀的平面度測(cè)量允許誤差。

2. 校準(zhǔn)步驟:將標(biāo)準(zhǔn)平面反射鏡放置在干涉儀的測(cè)量工作臺(tái)上,調(diào)整反射鏡的位置,使干涉儀能夠?qū)Ψ瓷溏R的平面度進(jìn)行測(cè)量;在干涉儀上設(shè)置平面度測(cè)量功能,并進(jìn)行測(cè)量;記錄干涉儀測(cè)量得到的平面度誤差值,并與標(biāo)準(zhǔn)平面反射鏡的標(biāo)稱平面度誤差值進(jìn)行對(duì)比;計(jì)算平面度測(cè)量示值誤差;分析平面度測(cè)量示值誤差是否在允許范圍內(nèi)。若超出允許范圍,可通過(guò)調(diào)整干涉儀的光學(xué)系統(tǒng)、校準(zhǔn)平面度測(cè)量算法等進(jìn)行校準(zhǔn) 。

八、校準(zhǔn)結(jié)果處理

1. 校準(zhǔn)證書:校準(zhǔn)完成后,應(yīng)出具校準(zhǔn)證書。校準(zhǔn)證書應(yīng)包含以下內(nèi)容:校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)名稱、地址;委托方名稱、地址;被校準(zhǔn)干涉儀的型號(hào)、編號(hào)、生產(chǎn)廠家等信息;校準(zhǔn)依據(jù);校準(zhǔn)環(huán)境條件;校準(zhǔn)項(xiàng)目、校準(zhǔn)結(jié)果、測(cè)量不確定度;校準(zhǔn)日期、校準(zhǔn)人員、核驗(yàn)人員簽名等 。

2. 校準(zhǔn)結(jié)果判定:根據(jù)校準(zhǔn)結(jié)果,判斷干涉儀是否符合使用要求。若校準(zhǔn)項(xiàng)目的測(cè)量結(jié)果均在允許范圍內(nèi),則判定該干涉儀校準(zhǔn)合格;若有任何一項(xiàng)校準(zhǔn)項(xiàng)目的測(cè)量結(jié)果超出允許范圍,則判定該干涉儀校準(zhǔn)不合格 。對(duì)于校準(zhǔn)不合格的干涉儀,應(yīng)注明不合格項(xiàng)目及具體偏差情況,并建議委托方對(duì)干涉儀進(jìn)行維修或調(diào)整后重新校準(zhǔn) 。

3. 測(cè)量不確定度評(píng)定:對(duì)校準(zhǔn)結(jié)果進(jìn)行測(cè)量不確定度評(píng)定,分析不確定度的來(lái)源,如標(biāo)準(zhǔn)件的不確定度、測(cè)量重復(fù)性引入的不確定度、環(huán)境因素引入的不確定度等,并給出合成不確定度和擴(kuò)展不確定度 。測(cè)量不確定度評(píng)定應(yīng)按照相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范進(jìn)行,例如JJF 1059.1《測(cè)量不確定度評(píng)定與表示》 。在校準(zhǔn)證書中應(yīng)明確給出測(cè)量不確定度的評(píng)定結(jié)果 。

九、復(fù)校時(shí)間間隔

一般情況下,干涉儀的復(fù)校時(shí)間間隔建議為1年。但實(shí)際復(fù)校時(shí)間間隔可根據(jù)干涉儀的使用頻率、使用環(huán)境、測(cè)量要求等因素進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整。如果在使用過(guò)程中發(fā)現(xiàn)干涉儀測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)異?;驊岩善錅?zhǔn)確性時(shí),應(yīng)及時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn) 。

十、注意事項(xiàng)

1. 校準(zhǔn)過(guò)程中應(yīng)嚴(yán)格按照操作規(guī)程進(jìn)行操作,避免因操作不當(dāng)導(dǎo)致干涉儀損壞或測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。

2. 校準(zhǔn)前應(yīng)對(duì)干涉儀和校準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行預(yù)熱,使其達(dá)到穩(wěn)定工作狀態(tài),以減少溫度變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

3. 在校準(zhǔn)過(guò)程中,應(yīng)避免對(duì)干涉儀和校準(zhǔn)設(shè)備產(chǎn)生振動(dòng)、沖擊和電磁干擾,確保測(cè)量環(huán)境的穩(wěn)定性。

4. 清潔光學(xué)元件時(shí),應(yīng)使用柔軟的無(wú)塵擦拭布和無(wú)水乙醇,輕輕擦拭,避免劃傷光學(xué)表面。

5. 校準(zhǔn)完成后,應(yīng)妥善保管校準(zhǔn)證書和校準(zhǔn)記錄,以便日后查詢和追溯 。 




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