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TF ANALYZER 1000 德國(guó)aixACCT鐵電分析儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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上海麥科威半導(dǎo)體技術(shù)有限公司(Shanghai Makeway Semiconductor LTD)是一家專(zhuān)業(yè)的微納材料、半導(dǎo)體和微電子材料及器件研發(fā)儀器及設(shè)備的供應(yīng)商,所銷(xiāo)售的儀器設(shè)備廣泛用于高校、研究所、以及半導(dǎo)體和微電子領(lǐng)域的高科技企業(yè)。目前總部在上海,香港、南通、深圳、北京分別設(shè)立分公司和辦事處,快速響應(yīng)客戶(hù)需求。同時(shí)上海麥科威在快速擴(kuò)展海外市場(chǎng),并設(shè)立新加坡分公司,輻射東南亞市場(chǎng)。

      上海麥科威半導(dǎo)體技術(shù)有限公司主要銷(xiāo)售產(chǎn)品包括:  - 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀;  - 快速退火爐;  - 回流焊爐,共晶爐,釬焊爐,真空燒結(jié)爐;  - 電子束蒸發(fā)鍍膜機(jī),熱蒸發(fā)鍍膜機(jī);  - 探針臺(tái),低溫探針臺(tái),微探針臺(tái);  - 金剛石劃片機(jī); - 球焊機(jī),鍥焊機(jī);  - 磁控濺射鍍膜機(jī);  - 原子層沉積系統(tǒng),等離子增強(qiáng)原子層沉積設(shè)備;  - 電化學(xué)C-V剖面濃度分析儀(ECV Profiler); - 掃描開(kāi)爾文探針系統(tǒng); - 光學(xué)膜厚儀; -貼片機(jī)-PECVD\CVD;-脈沖激光沉積系統(tǒng)-PLD-納米壓?。?等離子清洗機(jī)、去膠機(jī);-反應(yīng)離子刻蝕RIE; - 光刻機(jī)、無(wú)掩膜光刻機(jī); - 勻膠機(jī); - 熱板,烤膠板; -少子壽命、太陽(yáng)能模擬器;-NMR-瞬態(tài)能譜儀-外延沉積-等離子清洗機(jī)-離子注入-劃片機(jī)、裂片機(jī)光刻機(jī)(針尖/電子束光刻機(jī)EBL,紫外光刻機(jī),激光直寫(xiě)光刻機(jī)),鍍膜機(jī)(磁控濺射機(jī),電子束蒸發(fā)機(jī),化學(xué)沉積機(jī),微波等離子沉積機(jī),原子層沉積機(jī)  等等…

企業(yè)客戶(hù):華為技術(shù)有限公司, 深圳市鵬芯微集成電路制造, 深圳清力技術(shù), 安徽格恩半導(dǎo)體, 蘇州稀晶半導(dǎo)體科技, 矽品半導(dǎo)體, 廈門(mén)海辰新能源科科, 中核同創(chuàng)(成都)科技, 洛瑪瑞芯片技術(shù)(常州),偉創(chuàng)力科技, 奧普科星河北科技,廣東五星太陽(yáng)能,廣東萬(wàn)和集團(tuán),西安西測(cè)股份, 普源精電科技, 普源精電科技股份, 上海蔚來(lái)汽車(chē), 北京華脈泰科, 廣醫(yī)東金灣高景太陽(yáng)能科技, 深圳匯佳成電子, 深圳市化訊半導(dǎo)體材料, 珠海珍迎機(jī)電, 合肥鼎材科技, 山東金晶節(jié)能玻璃, 江蘇云意電氣股份, 廣東風(fēng)華技股份, 浙江中能合控股集團(tuán),固安維信諾,淮安天合光能,浙江老鷹半導(dǎo)體, 四川信通電子科技等。


科研院所/高等院校: 北京航空航天大學(xué), 汕頭大學(xué), 南方醫(yī)科大學(xué), 清華大學(xué), 北京大學(xué), 復(fù)旦大學(xué), 西北工業(yè)大學(xué), 南京醫(yī)科大學(xué), 香港中文大學(xué), 香港城市大學(xué), 蘇州大學(xué), 深圳職業(yè)技術(shù)學(xué)院, 南京大學(xué)合肥國(guó)家試驗(yàn)室, 上海交通大學(xué)醫(yī)學(xué)院, 華南理工大學(xué),華東師范大學(xué),江南大學(xué),重慶26所, 深圳大學(xué), 南方科技大學(xué), 深圳技術(shù)大學(xué), 理化技術(shù)研究所, 中國(guó)工程物理研究院激光聚變研究中心, 廣東粵港澳大灣區(qū)黃埔材料研究院, 桂林電子科技大學(xué), 上海硅酸鹽研究所, 中國(guó)航天五院,中科合肥智慧農(nóng)業(yè)協(xié)同創(chuàng)新研究院等。

 

 

 

 

 

 

 

 

半導(dǎo)體設(shè)備,快速退火爐,原子層沉積,鍵合機(jī),光刻機(jī)

德國(guó)aixACCT鐵電分析儀介紹:

自1995年以來(lái),德國(guó)aixACCT Systems一直致力于開(kāi)發(fā)用于材料表征和壓電材料組件測(cè)試的模塊化系統(tǒng),專(zhuān)業(yè)的團(tuán)隊(duì)以及與我們的研究和工業(yè)網(wǎng)絡(luò)的合作為我們提供了市場(chǎng)上的壓電材料表征技術(shù)。作為技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)豐富的專(zhuān)家,我們不斷開(kāi)發(fā)表征解決方案,以便您能夠快速可靠地實(shí)現(xiàn)您的目標(biāo)。我們的動(dòng)力是不斷突破可能性的極限。我們重新思考技術(shù)并不斷調(diào)整它們以滿(mǎn)足您的需求。作為技術(shù)和專(zhuān)家,我們?yōu)榇髮W(xué)、研發(fā)工程和生產(chǎn)提供解決方案。

TF Analyzer鐵電分析儀技術(shù)指標(biāo):

來(lái)自德國(guó)aixACCT公司的鐵電分析儀,包括眾多型號(hào)及選配件,模塊化設(shè)計(jì)的aixACCT鐵電分析儀具有優(yōu)異的擴(kuò)展性。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。

TF ANALYZER 1000緊湊型鐵電壓電分析儀:

TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測(cè)試。

德國(guó)aixACCT鐵電分析儀主要技術(shù)指標(biāo):

電壓范圍:±12V標(biāo)配 (可擴(kuò)展到+/-10kV)

測(cè)試頻率:0.01Hz~1000Hz

疲勞測(cè)試頻率:50kHz

最小脈沖寬度:20μs

輸出電阻:50Ω

電容:100nF

輸出電流:+/-50mA

電流放大器:電流大小范圍:1nA~1A

可測(cè)試功能:

測(cè)試軟件aixPlorer基于Windows 7操作系統(tǒng),操作極為便捷

測(cè)試功能:

- 動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn) (Hysteresis):測(cè)試頻率0.01Hz~1000Hz

- 疲勞 (Fatigue):50KHz

- 保持力 (Retention)

- 印跡 (Imprint)

- 漏電流測(cè)試 (Leakage Current)

- C(V) 曲線(xiàn)測(cè)試

- 壓電性能測(cè)試 (蝴蝶曲線(xiàn)、d33曲線(xiàn))

- 變溫性能測(cè)試 (Thermo Measurement)

TF ANALYZER 2000E模塊化鐵電壓電分析儀:

TF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性的模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。

模塊化設(shè)計(jì)的TF Analyzer 2000 E具有優(yōu)異的擴(kuò)展性。

FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試;

MR模塊-磁阻和鐵性材料測(cè)試;

RX模塊-弛豫電流測(cè)試;

DR模塊-自放電測(cè)試。

測(cè)試基本單元:包括內(nèi)置完整的專(zhuān)用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,Windows 7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專(zhuān)用測(cè)試軟件等。

FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能:

Dynamic Hysteresis動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率(標(biāo)準(zhǔn)FE模塊0.001Hz~5kHz);

Static Hysterestic靜態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試;

PUND脈沖測(cè)試;

Fatigue疲勞測(cè)試;

Retention保持力;

Imprint印跡;

Leakage current漏電流測(cè)試;

Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能。

FE模塊可選測(cè)試功能:

C-V curve電容-電壓曲線(xiàn);

Piezo Measurement壓電性能測(cè)試;

Pyroelectric Measurement熱釋電性能測(cè)試;

In-situ Compensation原位補(bǔ)償;

DLCC動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能。

技術(shù)說(shuō)明:

電壓范圍:+/-25V(可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/-10KV);

電滯頻率:5kHz(標(biāo)準(zhǔn)FE模塊);

最小脈沖寬度:2μs;

最小上升時(shí)間:1μs;

電流放大范圍:1pA~1A;

負(fù)荷電容:1μF;

輸出電流峰值:+/-1A。

可擴(kuò)展部件:

高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS等。

MR模塊是用來(lái)研究磁阻和鐵性材料的。

此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試,樣品上的電壓降通過(guò)高精度四點(diǎn)測(cè)試。

RX模塊是用來(lái)研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。

該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開(kāi),并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。

DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。

由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況,因此通過(guò)這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。

針對(duì)工業(yè)方面的應(yīng)用,TF Analyzer 2000E提供了256個(gè)自動(dòng)測(cè)試的通道,大大擴(kuò)展了該儀器的測(cè)試功能。

以上所有的模塊可根據(jù)您的測(cè)試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。

TF ANALYZER 3000E高速型模塊化鐵電壓電分析儀:

TF ANALYZER 3000E是一款擴(kuò)展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。

模塊化設(shè)計(jì)的TF Analyzer 3000具有優(yōu)異的擴(kuò)展性。

FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試;

MR模塊-磁阻和鐵性材料測(cè)試;

RX模塊-弛豫電流測(cè)試;

DR模塊-自放電測(cè)試。

測(cè)試基本單元:包括內(nèi)置完整的專(zhuān)用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,Windows 7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專(zhuān)用測(cè)試軟件等。

FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能:

Dynamic Hysteresis動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率(增強(qiáng)型FE模塊250kHz,高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz);

Static Hysterestic靜態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試;

PUND脈沖測(cè)試;

Fatigue疲勞測(cè)試;

Retention保持力;

Imprint印跡;

Leakage current漏電流測(cè)試;

Thermo Measurement變溫測(cè)試功能。

FE模塊可選測(cè)試功能:

C-V curve電容-電壓曲線(xiàn);

Piezo Measurement壓電性能測(cè)試;

Pyroelectric Measurement熱釋電性能測(cè)試;

In-situ Compensation原位補(bǔ)償;

DLCC動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能;

Impedance Measurement 阻抗測(cè)試 (僅適用于高速增強(qiáng)型)。

技術(shù)說(shuō)明:

電壓范圍:+/-25V(可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/-10KV);

電滯頻率:增強(qiáng)型FE模塊250kHz,高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz;

最小脈沖寬度:50ns;

最小上升時(shí)間:10ns;

疲勞頻率:16MHz;

電流放大范圍:1pA~1A;

負(fù)荷電容:1nF;

輸出電流峰值:+/-1A。

可擴(kuò)展部件:

高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS、阻抗分析儀等。

MR模塊是用來(lái)研究磁阻和鐵性材料的。

此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試,樣品上的電壓降通過(guò)高精度四點(diǎn)測(cè)試。

RX模塊是用來(lái)研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。

該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開(kāi),并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。

DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。

由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況,因此通過(guò)這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。

針對(duì)工業(yè)方面的應(yīng)用,TF Analyzer 3000提供了256個(gè)自動(dòng)測(cè)試的通道,大大擴(kuò)展了該儀器的測(cè)試功能。

以上所有的模塊可根據(jù)您的測(cè)試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。


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