XF-S5MC 貴金屬鍍層光譜測(cè)金儀S5MC西凡多功能光譜儀
- 公司名稱 西凡儀器(深圳)有限公司
- 品牌 CFAN/西凡儀器
- 型號(hào) XF-S5MC
- 產(chǎn)地 廣東省深圳市寶安區(qū)上南東路128號(hào)恒昌榮高新產(chǎn)業(yè)園2棟10層
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/6/17 8:51:53
- 訪問次數(shù) 158
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分析含量范圍 | 0.010%~99.999% | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
能量分辨率 | 125±5eV | 行業(yè)專用類型 | 有色金屬 |
儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件,綜合 |
元素分析范圍 | 鉀(19)~鈾(92) | 重復(fù)性 | 自定義 |
探測(cè)器 | 美國AMPTEK定制Fast-SDD | 內(nèi)置工控電腦 | Intel i5十二核 |
高壓電源 | 50KV/1mA數(shù)字高壓電源 | 準(zhǔn)直器 | Φ0.5毫米+Φ1.5毫米 |
XF-S5MC是西凡儀器推出的旗艦款多功能X射線熒光光譜儀,可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈、電鍍產(chǎn)業(yè)鏈、寶石產(chǎn)業(yè)鏈等行業(yè)。該產(chǎn)品搭載美國AMPTEK定制Fast-SDD探測(cè)器、配備多準(zhǔn)直器和多濾光片,內(nèi)置Intel 12核CPU工控電腦,采用Smart FP算法,應(yīng)用西凡創(chuàng)新的X射線與可見光共焦點(diǎn)垂直光路,其可獲得更小的實(shí)際照射焦斑。能夠精準(zhǔn)分析貴金屬成分、寶石成分、RoHS有害物質(zhì)、鍍層厚度、礦石成分和離子濃度等,檢測(cè)速度快,測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高。MC型號(hào)支持雙準(zhǔn)直器,性能更強(qiáng)大。
產(chǎn)品特點(diǎn)
元素檢測(cè)范圍:鉀(19)~鈾(92)
可支持最多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算
可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析
鍍層報(bào)警、錸鎢檢測(cè)報(bào)警
可支持寶石人工/天然分析
檢測(cè)樣品:貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體
分析范圍:
貴金屬:0.010%~99.999%
鍍層:0.001um~80um
液體:5mg/L~200g/L
檢測(cè)精度:
貴金屬:±0.01%(9999金)
鍍層:RSD≤1.5%
液體:RSD≤1.5%
支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試,測(cè)試效率高
遵守ISO23345及ISO3497標(biāo)準(zhǔn)
核心部件
探測(cè)器:美國AMPTEK定制Fast-SDD
探測(cè)器面積:25mm2
分辨率:125±5eV
內(nèi)置工控電腦:Intel i5十二核
高壓電源:50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管:50KV/1mA
窗口材料:鋁
靶材:鎢
焦點(diǎn):Φ0.5mm
準(zhǔn)直器:Φ0.5毫米+Φ1.5毫米