小巧便捷  集成度高磁滯回線測量儀 TTT-PMA Checker

從當(dāng)下主流的機(jī)械硬盤，到未來的磁性存儲單元，磁滯回線測量都是評估薄膜性質(zhì)的重要手段。相較于電學(xué)霍爾測量和震動磁強(qiáng)計，磁光磁克爾效應(yīng)具有測量速度快，精度高，非侵入，且不需要對樣品進(jìn)行加工或切片等操作的特點。

通過對磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對磁化強(qiáng)度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質(zhì)。針對不同矯頑力的多層磁性薄膜結(jié)構(gòu)，磁光克爾測量可以分析出逐層的磁滯回線信息。

托托科技磁滯回線測量儀

托托科技推出的小巧便捷  集成度高磁滯回線測量儀，以其緊湊的設(shè)計、精確的測試結(jié)果、強(qiáng)大的磁場強(qiáng)度和便捷的數(shù)據(jù)采集功能，滿足了實驗室研究和工業(yè)生產(chǎn)中對各種磁性薄膜材料測試的需求。我們提供的一站式解決方案包括控制盒、磁光主體和上位機(jī)，形成一套完整的設(shè)備，無需額外的電表或電源，即可輕松進(jìn)行磁滯回線測量。此外，設(shè)備還預(yù)留了信號讀取和TTL觸發(fā)接口，方便用戶使用自己的鎖相放大器（例如SRS系列或 Zurich MFLI系列）進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。

產(chǎn)品介紹

應(yīng)用示例

自旋/磁電子學(xué) 磁性納米技術(shù) 非易失性磁性隨機(jī)存儲器 磁阻研究 磁性薄膜 磁性傳感器

構(gòu)成清單

光磁主體 控制盒 電腦

設(shè)備控制軟件界面

產(chǎn)品定位/推薦

該系統(tǒng)的定位是為客戶提供穩(wěn)定、快捷的磁滯回線測量設(shè)備。如需更多附加功能，例如：磁疇成像，微區(qū)測量，集成溫控設(shè)備，集成電學(xué)測量設(shè)備，集成樣品掃描成像等選項，我們建議客戶考慮TTT-Mag-Kerr Microscope 系列產(chǎn)品。

TTT-PMA Checker不具備空間分辨能力，光斑直徑為1毫米。

測試數(shù)據(jù)

Si 襯底上生長制備MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)]2垂直磁性薄膜基底上濺射不同覆蓋層X（2）/MgO（1）/SiO2（3）（thickness in nm），其中X = Pt，Cu，MgO，Ir，Ta，W，以及Hf元素。通過TTT-Mag-PMA Checker/磁滯回線測量儀對樣品的矯頑力快速檢測得到樣品磁滯回線數(shù)據(jù)，快速對比其磁性強(qiáng)度和矯頑力場的區(qū)別。