NETZSCH 公司 LFA 447 Nanoflash® 閃光導(dǎo)熱儀，在材料熱擴(kuò)散與導(dǎo)熱性能測(cè)量方面又一有力的工具。遵照 ASTM E1461 標(biāo)準(zhǔn)，Nanoflash® 使用氙燈作為加熱源加熱樣品表面，使用紅外探測(cè)器讀取樣品溫升，減少了潛在的表面熱阻，可以精確測(cè)量薄的樣品如基質(zhì)上的涂層、薄膜材料或多層樣品。

Nanoflash® 的操作實(shí)現(xiàn)高度自動(dòng)化：由軟件控制測(cè)試溫度與閃光燈啟閉，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)允許儀器在一次測(cè)試過程中測(cè)量多個(gè)樣品。在爐體到達(dá)設(shè)定溫度后，每一數(shù)據(jù)點(diǎn)的采集通常短于五分鐘。儀器可以為每一樣品單獨(dú)設(shè)置閃光能量等級(jí)、脈沖寬度與溫度。其所測(cè)量的熱擴(kuò)散系數(shù)范圍十分寬廣，覆蓋從聚合物到金剛石各類材料領(lǐng)域。

測(cè)量原理：作為加熱源的氙燈發(fā)射一束脈沖，打在樣品的下表面，由紅外探測(cè)器測(cè)量樣品上表面的相應(yīng)溫升，并由軟件計(jì)算出樣品的熱擴(kuò)散系數(shù)。

儀器可以同步測(cè)量熱擴(kuò)散系數(shù)（α）與比熱（Cp）。比熱的測(cè)量是通過比較樣品的實(shí)際溫升與已知比熱的參比樣的溫升求得。若已知樣品的密度（ρ），則按照下式可計(jì)算出樣品的導(dǎo)熱系數(shù)（λ）：

λ(T) = α(T) * Cp(T) * ρ(T)

使用內(nèi)置的 2 或 4 樣品位的自動(dòng)進(jìn)樣器，可以同時(shí)自動(dòng)進(jìn)行多個(gè)樣品的測(cè)量。樣品托盤操作容易，制樣快，測(cè)樣周期短。