nanoIR3-s 納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)保科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 nanoIR3-s
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/7/4 17:38:12
- 訪問次數(shù) 79
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器類型 | 實驗室型 |
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儀器種類 | 傅立葉變換型(FT) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥 |
nanoIR3-s納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys
核心參數(shù)
儀器種類:傅立葉變換型 儀器類型:實驗室型
波數(shù)范圍:900-3600cm-1 分辨率:空間分辨率10nm, 光譜分辨率<1cm-1
掃描速度:10s/spectra 信噪比:200:1
產(chǎn)品介紹
簡介
nanoIR2-s是2015年Anasys發(fā)布的最新一代納米紅外光譜系統(tǒng),新增了散射近場光學(xué)成像和光譜功能(s-SNOM),在同一平臺上實現(xiàn)了AFM-IR和s-SNOM兩種技術(shù)。該設(shè)備的空間分辨率高達10nm,適用于聚合物、復(fù)合材料、生物樣本、半導(dǎo)體、等離子體、納米天線等領(lǐng)域。其AFM-IR技術(shù)確保與FTIR光譜一致,而s-SNOM則通過金屬鍍層AFM探針提升光輻射,并具備光路自動優(yōu)化功能。儀器獲得多家機構(gòu)認可,且操作簡便,同時支持多種AFM測量模式。
l AFM-IR 消除分析化學(xué)研究人員的擔憂--與FTIR光譜吻合,沒有吸收峰的任何偏移
l s-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強和散射樣品納米區(qū)域內(nèi)的光輻射,空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定
l 技術(shù)實現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整,無需擔心光路偏差拖延你的實驗進度
l 最準確的定性微區(qū)化學(xué)表征,得到美國國家標準局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等機構(gòu)的認可
l 簡單易用的操作,被三十多位企業(yè)用戶和近百位學(xué)術(shù)界所選擇
l 基于DI傳承的多功能AFM實現(xiàn)納米熱學(xué),力學(xué),電學(xué)和磁學(xué)測量:
l 納米熱分析模塊(nanoTA, SThM)
l 洛侖茲接觸共振模塊(LCR)
l 導(dǎo)電原子力顯微鏡鏡(CAFM)
l 開爾文電勢顯微鏡(KPFM)
l 磁力顯微鏡(MFM)
l 靜電力顯微鏡(EFM)