在線XRF 光譜儀
- 公司名稱 北京圣達駿業(yè)科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/7/23 14:09:26
- 訪問次數(shù) 39
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,電氣 |
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在線XRF 光譜儀
Vanta iX在線XRF分析儀可以對材料進行自動分析
保持生產(chǎn)過程高速運行
值得依賴的準確性能
奧林巴斯Vanta iX在線X射線熒光(XRF)分析儀可以對生產(chǎn)線上的產(chǎn)品進行自動材料分析和合金牌號辨別,并即時提供結(jié)果,從而可對生產(chǎn)過程進行實時監(jiān)控,并對合金進行100%無遺漏辨別。
這款分析儀可全天時、全天候(24/7)運行,經(jīng)過配置,可提供通過/失敗結(jié)果、準確的合金牌號,以及材料的化學(xué)成分信息。
• 高分辨率:辨別多種合金牌號,包括輕元素和重元素
• 快速提供準確的結(jié)果:分析儀具有速度快、穩(wěn)定性強,及高計數(shù)率等特性
• 高效率:配備了硅漂移探測器(SDD),并采用了受好評的Axon技術(shù)(所有Vanta分析儀都采用了這種技術(shù))
在金屬制造過程中對產(chǎn)品進行100%無遺漏檢測
對于采用工業(yè)4.0方案并對生產(chǎn)過程實施全天時、全天候(24/7)控制以驗證合金的企業(yè)來說,可以使用Vanta iX分析儀對制造過程中的棒材、坯材、管材,以及機械加工零件和定制部件進行材料驗證和批次/爐號控制。使用Vanta iX分析儀對產(chǎn)品進行自動化檢測提升了成品的價值,因為可以借此證明材料經(jīng)過了100%的檢測和驗證。
地質(zhì)選礦過程中的掃查和監(jiān)控
在地質(zhì)選礦和采礦方面,Vanta iX分析儀可以對巖芯進行掃查,對傳送帶上的礦石進行分析,并提供實時結(jié)果,以監(jiān)控選礦和采礦過程中發(fā)生的變化,并確保礦石品位的一致性。在對傳送帶上的礦石進行分析的過程中,分析儀可以為精礦提供配礦驗證和選礦驗證。
在線XRF 光譜儀智能整合
Vanta iX分析儀上有幾個安裝孔,可方便地將分析儀安裝到現(xiàn)有的機器人或其他系統(tǒng)上。沒有外部控制箱,因此可以通過PLC(可編程邏輯 控制器)和離散導(dǎo)線,或者通過Vanta Connect API(應(yīng)用程序
編程接口)輕松控制分析儀。接口選項:
• 以太網(wǎng)(RJ-45),可啟用以太網(wǎng)供電
• USB
• 離散I/O(16針)
• 輔助DC電源
堅固耐用,適用于生產(chǎn)線環(huán)境
Vanta iX分析儀可以承受住生產(chǎn)設(shè)備的劇烈振動、強烈的電磁噪聲和聲學(xué)噪音,并具有防塵和防潮的特性。
• 通過了振動測試和機械撞擊測試(MIL-STD 810G)
• 符合IP54評級標準
• 可以在–10 °C至50 °C的溫度范圍內(nèi)連續(xù)工作
內(nèi)置散熱器可以降低分析儀內(nèi)部的溫度,而通過機身上的風扇連接點可將分析儀與風扇連接,加強冷卻效果。無需使用工具,就可以更換分析儀的窗口,從而實現(xiàn)快速維護的目標。
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Vanta iX分析儀的技術(shù)規(guī)格
外型尺寸(寬 × 高 × 厚) | 10 cm × 7.9 cm × 26.6 cm |
重量 | 2.4公斤 |
激勵源 | X射線管:銠或鎢陽極靶材(應(yīng)用優(yōu)化),5 ~ 200 µA MR型號:8 ~ 50 keV(最大4 W) CW型號:8 ~ 40 keV(最大4 W) |
主光束濾光片 | 8種濾光片位置,根據(jù)選擇的光束和方式自動匹配。 |
探測器 | MR型號:大區(qū)域硅漂移探測器 CW型號:硅漂移探測器 |
電源 | 通過以太網(wǎng)(PoE+)或者18 V AC電源適配器供電。 |
可檢測元素范圍 | 取決于方式: MR型號:從鎂(Mg)到鈾(U)的元素 CW型號:從鈦(Ti)到鈾(U)的元素(使用標準窗口并經(jīng)過校準) |
壓力校正 | 內(nèi)置氣壓計,用于海拔和空氣壓力的自動校正。 |
IP評級 | IP54 |
操作環(huán)境 | 溫度范圍:?10 °C ~ 50 °C,可連續(xù)工作。濕度:相對濕度為10 % ~ 90 %,無冷凝。 |
操作系統(tǒng) | Linux |
應(yīng)用軟件 | 奧林巴斯專有的數(shù)據(jù)采集和處理軟件包 |
耐用性測試 | 功能性撞擊:通過了美軍標準MIL-STD-810G,方式516.6:撞擊程序I, 20g 11 ms(操作安全),40g 11ms(撞擊安全)中的測試。 |
振動測試 | 通過了美軍標準MIL-STD-810G,方法514.4:一般振動,程序I附錄C, 圖514.6C-5中的測試,1小時,一般暴露。 |
轉(zhuǎn)接墜落測試 | 通過了美軍標準MIl-STD-810G,方法516.6:轉(zhuǎn)接墜落,程序IV中的測試, 26次墜落 |