IM3570 阻抗分析儀可進行掃頻或電平掃描測量
- 公司名稱 深圳市云帆興燁科技有限公司
- 品牌 HIOKI/日本日置
- 型號 IM3570
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/7/25 10:52:25
- 訪問次數(shù) 13
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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IM3570日置阻抗分析儀
本公司7月25日9點34分報道:在分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量或時間間隔測量#2025動態(tài)已更新《采購/推薦》
產(chǎn)品描述
1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
→LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
→基本精度±0.08%的高精度測量
→適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
→分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
→可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
測量模式 | LCR(LCR測量),分析儀(掃描測量),連續(xù)測量 |
測量參數(shù) | Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
測量量程 | 100mΩ~100MΩ;,12檔量程(所有參數(shù)由Z確定) |
顯示范圍 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[單位]~9.999999G[單位],僅Z和Y顯示 D:±(0.000000~9.999999) Q:±(0.00~99999.99) △%:±(0.0000%~999.9999%) |
基本精度 | Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° |
測量頻率 | 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進) |
測量信號電平 | V模式,CV模式(普通模式) |
輸出阻抗 | 普通模式:100Ω; 低阻抗高精度模式:10Ω |
顯示 | 彩色TFT5.7英寸,可設(shè)置顯示ON/OFF |
測量時間 | 0.5ms(100kHz,F(xiàn)AST,顯示OFF,代表值) |
測量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
其他功能 | DC偏壓測量,比較功能,面板讀取和保存,存儲功能 |
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