ET200A-D KOSAKA小坂微細(xì)形狀測定機(jī)臺階儀配備
| 參考價(jià) | ￥ 50000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 美薩科技（蘇州）有限公司
- 品牌 KOSAKA/小坂研究所
- 型號 ET200A-D
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/7/26 9:22:57
- 訪問次數(shù) 65
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,包裝/造紙/印刷,汽車及零部件,電氣 | 發(fā)貨 | 蘇州 |
| 技術(shù) | 包含 |
KOSAKA小坂微細(xì)形狀測定機(jī)臺階儀配備 ET200A
KOSAKA小坂微細(xì)形狀測定機(jī)臺階儀配備ET200A
重現(xiàn)性1σ ≤ 1nm 測定范圍Z:600um X:100mm
分解能Z:0.1nm X:0.1um 測定力10UN~500UN (1mg-50mg) 載物臺Φ160mm, 手動(dòng)360度旋轉(zhuǎn)
ET200A基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半 導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、 薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高 精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
臺階儀ET200A產(chǎn)品參數(shù)| 最大試片尺寸 | Φ200mm×高度50mm |
|---|---|
| 重現(xiàn)性 | 1σ ≤ 1nm |
| 測定范圍 | Z:600um X:100mm |
| 分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
| 測定力 | 10UN~500UN (1mg-50mg) |
| 載物臺 | Φ160mm, 手動(dòng)360度旋轉(zhuǎn) |
ET200A基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半 導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、 薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高 精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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