原位MEMS技術(shù)：動態(tài)觀測的新選擇

澤攸科技的原位MEMS技術(shù)采用微納加工工藝制造，可與主流透射電鏡兼容，適用于多種原位實驗場景，例如：

• 熱學實驗：通過精準控溫，觀察材料在加熱或冷卻過程中的相變、晶格演變等行為。

• 力學實驗：對納米材料或薄膜施加可控應(yīng)力，研究其變形、斷裂等力學響應(yīng)。

• 電學實驗：施加電場或電流，研究材料的電致形變、導(dǎo)電性變化等現(xiàn)象。

該技術(shù)采用低應(yīng)力設(shè)計，有助于減少樣品漂移，提高成像穩(wěn)定性，使長時間原位觀測成為可能。

技術(shù)特點與優(yōu)勢

澤攸科技的原位MEMS產(chǎn)品具有以下特點：

• 兼容性強：適配多種品牌透射電鏡，支持標準樣品桿接口。

• 高精度控制：溫控、力加載等參數(shù)可精確調(diào)節(jié)，滿足不同實驗需求。

• 緊湊設(shè)計：MEMS芯片尺寸小，便于集成到TEM樣品臺，減少對電子束的遮擋。

• 多場景適用：適用于材料科學、半導(dǎo)體、能源存儲等領(lǐng)域的研究。

應(yīng)用案例

該技術(shù)已在多個研究方向得到應(yīng)用，例如：

• 納米材料研究：觀察碳納米管、二維材料等在熱或力作用下的結(jié)構(gòu)演變。

• 催化反應(yīng)：原位監(jiān)測催化劑在高溫或氣氛環(huán)境下的動態(tài)行為。

• 電池材料：研究電極材料在充放電過程中的微觀結(jié)構(gòu)變化。

結(jié)語

澤攸科技的透射電鏡原位MEMS技術(shù)為動態(tài)微觀表征提供了新的實驗手段，可能幫助研究人員更深入地理解材料在外場作用下的行為。如需了解更多技術(shù)細節(jié)或應(yīng)用案例，歡迎聯(lián)系澤攸科技技術(shù)支持團隊獲取進一步信息。