布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測量伙伴
參考價(jià) | ¥ 900000 |
訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/8/20 9:24:35
- 訪問次數(shù) 13
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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
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在科研與工業(yè)生產(chǎn)中,對微觀世界的精準(zhǔn)探索離不開得力的測量工具。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學(xué)輪廓儀,以其設(shè)計(jì)與實(shí)用性能,為各領(lǐng)域提供了可靠的測量支持。布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測量伙伴
產(chǎn)品細(xì)節(jié):設(shè)計(jì)精巧,操作簡便
ContourGT - K 外觀緊湊,易于安置在各類實(shí)驗(yàn)臺(tái)或生產(chǎn)線上。其操作界面友好,按鍵布局合理,搭配清晰的顯示屏,操作人員能迅速上手,輕松完成參數(shù)設(shè)置。樣品臺(tái)可靈活調(diào)節(jié),能穩(wěn)固承載不同形狀與尺寸的樣品,從微小的電子元件到較大的機(jī)械部件,都能確保測量位置精準(zhǔn)。設(shè)備的光學(xué)鏡頭保護(hù)良好,減少了灰塵、碰撞等外界因素干擾,保障測量的穩(wěn)定性。
產(chǎn)品性能:技術(shù)融合,穩(wěn)定可靠
該輪廓儀融合*的白光干涉技術(shù)與精密光學(xué)系統(tǒng),通過分析光的干涉現(xiàn)象,精準(zhǔn)還原樣品表面三維形貌。測量過程中,設(shè)備運(yùn)行平穩(wěn),數(shù)據(jù)采集連貫,測量結(jié)果一致性佳。它能適應(yīng)多種表面特性,無論是光滑的光學(xué)鏡片,還是粗糙的金屬加工表面,都能獲取有效的測量數(shù)據(jù)。測量范圍靈活可變,既適用于小范圍精細(xì)結(jié)構(gòu)的測量,也能滿足大面積區(qū)域的快速掃描需求。
用材講究:品質(zhì)選材,經(jīng)久耐用
布魯克在 ContourGT - K 的選材上十分用心。核心光學(xué)部件采用高透光率、低色散的光學(xué)玻璃,確保光線傳輸穩(wěn)定,成像清晰準(zhǔn)確。機(jī)械傳動(dòng)部分選用耐磨、高強(qiáng)度的合金材料,長期高頻使用下,依然能保持出色的運(yùn)動(dòng)精度,延長設(shè)備使用壽命。設(shè)備外殼堅(jiān)固且具備一定的抗腐蝕能力,有效保護(hù)內(nèi)部精密部件,適應(yīng)多樣的工作環(huán)境。
參數(shù)詳情
參數(shù)項(xiàng) | 具體數(shù)值 |
橫向分辨率 | 滿足多數(shù)微觀測量場景 |
縱向測量范圍 | 多種量程可選,適配不同樣品高度差 |
樣品臺(tái)承重 | 可承載一定重量的樣品 |
測量速度 | 依據(jù)樣品情況靈活調(diào)節(jié) |
數(shù)據(jù)輸出格式 | 支持常見格式,便于后續(xù)分析處理 |
廣泛用途
在半導(dǎo)體制造中,可精確測量芯片表面的粗糙度、線路寬度與深度,助力提升芯片性能與良品率。在光學(xué)元件生產(chǎn)里,能對透鏡、棱鏡的表面面形誤差進(jìn)行檢測,保障光學(xué)元件的成像質(zhì)量。材料科學(xué)研究時(shí),用于分析薄膜厚度、表面微觀結(jié)構(gòu),為新材料研發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。此外,在微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)制造、醫(yī)療器械生產(chǎn)等領(lǐng)域,也能發(fā)揮重要的質(zhì)量檢測作用。
使用說明
使用前,仔細(xì)檢查設(shè)備外觀有無損壞,各部件連接是否牢固。將設(shè)備放置在平穩(wěn)、無振動(dòng)的工作臺(tái)上,確保工作環(huán)境溫度、濕度適宜,避免環(huán)境因素影響測量精度。連接好電源及相關(guān)配件后,按照說明書進(jìn)行設(shè)備初始化設(shè)置。安裝樣品時(shí),依據(jù)樣品特性選擇合適的固定方式,確保樣品穩(wěn)固且處于正確測量位置。設(shè)置測量參數(shù)時(shí),根據(jù)樣品類型、測量目的謹(jǐn)慎選擇測量范圍、分辨率、掃描模式等。測量過程中,密切關(guān)注設(shè)備運(yùn)行狀態(tài),若發(fā)現(xiàn)圖像異常、測量數(shù)據(jù)波動(dòng)過大等情況,立即停止測量,排查故障原因,如檢查光路是否有遮擋、樣品是否發(fā)生位移等。測量完成后,及時(shí)關(guān)閉設(shè)備電源,清理樣品臺(tái),定期對設(shè)備進(jìn)行全面清潔與維護(hù),包括對光學(xué)部件進(jìn)行清潔、對機(jī)械傳動(dòng)部件進(jìn)行潤滑等,確保設(shè)備始終處于良好工作狀態(tài)。憑借出色的設(shè)計(jì)、可靠的性能與廣泛的適用性,布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學(xué)輪廓儀成為微觀測量領(lǐng)域的得力助手,助力各行業(yè)邁向精密制造與科研新高度。
布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測量伙伴