布魯克白光干涉輪廓儀落地式測(cè)量的革新力量
| 參考價(jià) | ￥ 900000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 北京儀光科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/8/20 9:29:23
- 訪問(wèn)次數(shù) 20
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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
|---|
在科研探索與工業(yè)生產(chǎn)對(duì)高精度測(cè)量需求日益增長(zhǎng)的當(dāng)下，布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學(xué)輪廓儀以其設(shè)計(jì)與強(qiáng)大性能，成為落地式測(cè)量設(shè)備中的，為眾多領(lǐng)域帶來(lái)全新的測(cè)量體驗(yàn)。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測(cè)量的革新力量
產(chǎn)品細(xì)節(jié)：穩(wěn)固設(shè)計(jì)，智能操作
ContourX - 1000 采用落地式結(jié)構(gòu)，機(jī)身穩(wěn)固，能有效抵抗外界振動(dòng)干擾。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學(xué)頭，雙光源、自動(dòng)化的物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)和樣品臺(tái)，以及可選配的晶圓卡盤(pán) 。這種創(chuàng)新設(shè)計(jì)為各種復(fù)雜應(yīng)用提供了極大便利，對(duì)于有難度的表面和深溝槽結(jié)構(gòu)也能輕松應(yīng)對(duì)。操作界面配備簡(jiǎn)潔且有引導(dǎo)性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人員的使用難度，即使經(jīng)驗(yàn)不足也能快速上手，輕松完成測(cè)量工作。全新的一鍵式高級(jí)尋找表面（Advanced Find Surface ™）功能結(jié)合自動(dòng)聚焦和自動(dòng)照明功能，無(wú)需每次測(cè)量前手動(dòng)查找樣品表面，極大提升了用戶(hù)體驗(yàn)且縮短測(cè)量時(shí)間 。
產(chǎn)品性能：*技術(shù)，高效穩(wěn)定
該輪廓儀融合了*的白光干涉技術(shù)與自動(dòng)化功能。白光干涉技術(shù)精準(zhǔn)測(cè)量表面微觀形貌，自動(dòng)化功能則大幅提高測(cè)量效率。設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定，配備專(zhuān)屬的內(nèi)部參考激光和防震臺(tái)，即便在嘈雜環(huán)境中，也能確保測(cè)量性能不受影響，提供可靠的測(cè)量結(jié)果。全局掃描干涉（USI）自適應(yīng)測(cè)量模式可自動(dòng)確定測(cè)量參數(shù)，在幾十微米尺度內(nèi)也能確保納米級(jí)分辨率 ，無(wú)論是對(duì)光滑表面還是粗糙表面，都能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
用材講究：堅(jiān)固耐用，品質(zhì)保障
ContourX - 1000 的選材注重堅(jiān)固耐用與性能穩(wěn)定。光學(xué)部件采用高品質(zhì)材料，確保成像清晰、測(cè)量準(zhǔn)確。機(jī)械結(jié)構(gòu)選用高強(qiáng)度金屬，保證設(shè)備在長(zhǎng)期使用中，維持精準(zhǔn)的運(yùn)動(dòng)精度。設(shè)備整體架構(gòu)設(shè)計(jì)穩(wěn)固，有效抵抗外界干擾，適應(yīng)工業(yè)生產(chǎn)車(chē)間等復(fù)雜環(huán)境，保障設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行與長(zhǎng)期使用。
參數(shù)詳情
參數(shù)項(xiàng) | 具體數(shù)值 |
測(cè)量模式 | 具備全局掃描干涉（USI）自適應(yīng)測(cè)量模式 |
自動(dòng)功能 | 自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)照明、自動(dòng)強(qiáng)度調(diào)整、自動(dòng)保存、自動(dòng)拼接等 |
光學(xué)頭特性 | 可傾斜 / 俯仰，優(yōu)化圖像采集 |
防震設(shè)計(jì) | 集成防震臺(tái)，減少外界振動(dòng)影響 |
測(cè)量重復(fù)性 | 表現(xiàn)優(yōu)秀，結(jié)果可靠 |
廣泛用途
在材料研發(fā)中，可用于分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)、涂層厚度均勻性等，為新材料的開(kāi)發(fā)與性能優(yōu)化提供重要依據(jù)。在半導(dǎo)體制造環(huán)節(jié)，能精確檢測(cè)芯片表面的平整度、缺陷等，保障芯片制造的良品率。在汽車(chē)零部件制造、醫(yī)療器械生產(chǎn)等行業(yè)，對(duì)于零部件表面粗糙度、紋理的測(cè)量，有助于提升產(chǎn)品質(zhì)量，確保產(chǎn)品性能符合標(biāo)準(zhǔn)。布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學(xué)輪廓儀憑借創(chuàng)新設(shè)計(jì)、強(qiáng)大性能與廣泛適用性，成為落地式測(cè)量設(shè)備中的革新力量，助力各行業(yè)在精密測(cè)量領(lǐng)域不斷突破，邁向新的高度。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測(cè)量的革新力量
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