美國膜厚儀是一臺款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀，用于檢測各種電鍍金屬元素鍍層厚度。美國優(yōu)特進口品牌和品質(zhì),優(yōu)特以其*的技術、的產(chǎn)品品質(zhì)及全面的服務為用戶所信賴我們一直致力于*的科學儀器、自控裝置設備及精細化學品的研發(fā)與生產(chǎn)，美國優(yōu)特公司作為世界的科學儀器和化學品跨國集團公司，公司的產(chǎn)品和服務已經(jīng)延伸到多個國家和地區(qū).
美國膜厚儀可測量電鍍，蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度，使用安全簡便，堅固耐用節(jié)省維護費用，可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。深圳鉑金電子公司歡迎各行業(yè)的朋友、了解或參觀相關美國優(yōu)特UTX系列儀器設備．

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劉生 
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