產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
        傳統(tǒng)光器件和光模塊的光損耗測(cè)試一般有兩種方法：采用自己搭建的步進(jìn)式測(cè)試方案或完整的集成式掃描系統(tǒng)。前者由于自身系統(tǒng)的限制，很難滿(mǎn)足光傳遞過(guò)程中連續(xù)掃描測(cè)試的需求；而后者盡管在性能上可以得到保障，但是由于系統(tǒng)的價(jià)格和擴(kuò)展性較差，也很難被用戶(hù)所接受。 
        CT-400采用*的設(shè)計(jì)理念，克服了兩種測(cè)試方法的缺點(diǎn)，形成了業(yè)界zui為完整的、緊湊型的光損耗測(cè)試方案，這種方案價(jià)格低，波長(zhǎng)范圍寬，可以在很寬的光譜范圍內(nèi)對(duì)光器件和光模塊的光功率、光波長(zhǎng)、光損耗和光偏振進(jìn)行精確測(cè)試。
產(chǎn)品特點(diǎn)：                                                     產(chǎn)品應(yīng)用：
         可連接4個(gè)可調(diào)諧激光器；                            光功率測(cè)試；
         支持多個(gè)連續(xù)掃描；                                       光損耗測(cè)試；
         測(cè)量精度高，測(cè)量速度快；                           光波長(zhǎng)測(cè)試；
         體積小、價(jià)格便宜；                                       光偏振測(cè)試；