E4991A 射頻阻抗/材料分析儀

E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能，幫助他們進行研發(fā)工作。與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結果?；咀杩咕仁?/span> +/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。

材料評估

E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。

晶圓測量

借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統(tǒng)（由 Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。

溫度特性評估

溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度范圍內(nèi)提供高精度的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂移補償功能。

技術指標

基本精度

•基本精度 +/-0.8%

掃描參數(shù)

•頻率：1 MHz 至 3 GHz

•振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

•DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA

更多特性

•Windows 風格的用戶界面

•內(nèi)置 VBA 編程功能

•通過 LAN 接口進行數(shù)據(jù)傳輸

多功能測量選件

•介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）

•可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）

•溫度特性測量（選件 E4991A-007）