項 目

Project

符 號Symbol

測試范圍

Test range

斷/短路

O/S

1KΩ~100KΩ

導(dǎo)通電阻測試

COND

10mΩ~50Ω

電阻量測

R

0.1Ω~10MΩ

電容量測

C

10pF~1000μF

二極管量測

D

0.0V~7.0V

絕緣阻抗

I.S

0.1MΩ~1000MΩ

直流漏電流

IL

1μA~1000μA

高壓漏電流

IL

0.01mA~10mA

瞬間導(dǎo)通阻抗

INT.COND

10mΩ~10Ω

快速瞬斷

INT.OPEN

 0.4ms

瞬間短斷路

INT.O/S

2ms/64pin靈敏度

測 量 時 間  TEST TIME

斷/短路 Open/Short

快速（4ms/次/64點）,慢速（8ms/次/64點）

導(dǎo)通電阻 Cond

快速55次/秒,中速45次/秒,慢速30次/秒

0.2s/32net（標準）參考

絕緣電阻

 Insulation resistance

一對其它3.6s/64net（0.01s）

二分快速0.4s/64net（0.01s）

0.01秒～60秒可選擇設(shè)定

交流高壓

 AC High Voltage

一對其它9.5s/64net（0.01s）

二分快速0.9s/64net（0.01s）

0.01秒～60秒可選擇設(shè)定

瞬間/高速短斷路 INT Time

0秒～99秒  設(shè)0秒表示無*

規(guī) 格 說 明 SPFCIFICATIONS

量測頻率與訊號/電壓 F/V

100~100KHz /5VDC.20mA  Max

量測速度 Speed Measurement

0.1Sec基本值

測試掃描模式 Scan Mode

自動/手動/連續(xù)/外部掃描可切換

顯示/聲警裝置 

 Warning device

320*240LCD液晶顯示器，藍/白底可切換

全部/良品/不良可選

真人語音/紅綠指示燈/畫面顯示/聲警

存儲裝置  Storage Devices

內(nèi)建512KB SRAM,可擴充1024KB

電源供應(yīng)   Power

115/230VAC 電壓輸入±10% 60/50Hz

環(huán)境溫濕度   Environment

溫度15℃~35℃  相對溫度≤75%

線材規(guī)格要求   Wire Spec

zui高1μF

尺寸 Size （W×D×H） 

400×175×350mm

重量  Weight

約13kg（不含配件）