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KPS040-004CA日本KITA半導體器件彈簧探針高頻PX 3106
公制細牙雙頭螺栓A蘇州半導體設(shè)備連接使用PX 0
KMW040-001RG日本KITA半導體器件彈簧探針大電流、高溫PX 3106
KJW050-003CG日本KITA半導體器件彈簧探針非磁性PX 3106
KNS025-001WP日本KITA半導體器件彈簧探針開爾文接觸PX 3106
KHS017-001CP日本KITA半導體器件彈簧探針細間距PX 3106
KHW030-001C2日本KITA半導體器件彈簧探針標準間距PX 3106
*材料測試美國吉時利KEITHLEY2450源表PX 5708
XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀PX 5708
ZBDR-10A界面材料熱阻及熱傳導系數(shù)測量儀PX 5708
半導體專用烤箱PX 0
石英部件存儲柜PX 0
TTT-03-PC托托科技燭龍™系列多模態(tài)光電顯微鏡PX 0
TTT-03-PC支持激光微區(qū)加工 多模態(tài)光電顯微鏡PX 0
TTT-03-PC多模態(tài)光電顯微鏡 熒光壽命成像PX 0
高性能硅片 半導體設(shè)備關(guān)鍵基石PX 0
Rigaku 中國代理PX 2297
WD4000晶圓幾何形貌量測機PX 6511
WD4000高精度晶圓厚度幾何量測系統(tǒng)PX 6511
WD4000半導體晶圓幾何表面形貌檢測設(shè)備PX 6511
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WD4000半導體晶圓粗糙度表面形貌測量設(shè)備PX 6511
WD4000系列晶圓翹曲度表面形貌檢測設(shè)備PX 6511
WD4000無圖晶圓粗糙度測量設(shè)備PX 6511
WD4000晶圓表面厚度翹曲度測量系統(tǒng)PX 6511
WD4000晶圓厚度晶圓翹曲度測量儀PX 6511
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WD4000國產(chǎn)晶圓幾何形貌量測設(shè)備PX 6511
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WD4000無圖晶圓幾何形貌測量設(shè)備PX 6511
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WD4000半導體晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 6511
WD4000晶圓幾何形貌自動檢測機PX 6511
MRF464MACOM半導體高頻功放管PX 1312
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AMD-AMG化學液體用氣控閥 半導體制造前工序PX 2996
AMD 1L化學液體用氣控閥PVC型 半導體制造前工序PX 2996
薄膜生長設(shè)備
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集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
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多通道高精度低噪聲綜合電學測量儀
日本進口精品OHKURA大倉晶閘管單元
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晶圓厚度THK幾何量測系統(tǒng)
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BENDER 絕緣檢測儀
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