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SPM300半導(dǎo)體晶圓應(yīng)力與載流子濃度檢測儀PX 5622
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)PX 3684
KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)PX 3684
BX-G3486高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3484高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3477高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3472高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3466高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3466高性能-太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3459高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3458高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3457高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3456高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3455多功能隔熱膜測試儀PX 3399
BX-G3454多功能隔熱膜溫度測試儀PX 3399
BX-G3453高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3450高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3449高性能太陽膜測試儀PX 3399
BX-G3448高性能太陽膜測試儀PX 3399
BXS11-HJ30焊接檢驗尺PX 3399
MIR200近紅外金相顯微鏡PX 0
RM 3000英國Jandel四探針探頭PX 5886
LPA12FS-3美國Logosol晶圓預(yù)對準(zhǔn)器PX 4250
LPA38-3-V40E2-S23-S-V500PLogosol LPA系列嵌入式晶圓預(yù)對準(zhǔn)器PX 4250
Diamond H3 wafer美國Logosol晶圓處理平臺PX 4250
UltraFilm - 薄膜測量系統(tǒng)PX 7147
UltraFilm薄膜測量系統(tǒng)PX 7147
高精度型StrainMatic M4薄膜應(yīng)力測試儀PX 7147
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測試儀PCD-400B多功能采集器PX 3052
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測試儀PCD-400B新型號PX 3052
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測試儀傳感器接口放大記錄器PX 3052
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測試儀便攜式采樣儀PX 3052
PCD-400BKYOWA共和應(yīng)力測試儀多功能動態(tài)數(shù)據(jù)采集器PX 3052
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測試儀多功能動態(tài)數(shù)據(jù)采集器PX 3052
PCD-400B應(yīng)變儀KYOWA共和應(yīng)力測試儀應(yīng)力數(shù)據(jù)采集器PX 3052
PCD-400BKYOWA共和應(yīng)力測試儀便攜式采樣儀PX 3052
PCD-400BKYOWA共和應(yīng)力測試儀傳感器接口放大記錄器PX 3052
PCD-400BKYOWA共和應(yīng)力測試儀PCD-400A小王子替代PX 3052
WGI-400A-01KYOWA共和玉崎小王子應(yīng)力測試儀現(xiàn)貨PX 3052
PCD-400BKYOWA共和應(yīng)力測試儀PCD-400A停產(chǎn)替代BPX 3052
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓形貌測量機(jī)
晶圓測厚儀 MX203-4-21
晶圓厚度測量儀 MX 102-8
晶圓厚度測量設(shè)備
無圖晶圓厚度翹曲量測系統(tǒng)
晶圓光學(xué)檢測鑷MEISTER-00C
美國 Logosol 晶圓預(yù)對準(zhǔn)器
美國 Logosol 嵌入式預(yù)對準(zhǔn)器 晶圓處理
全自動非接觸電阻率方阻測試儀
晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售
INTECS英特斯 半導(dǎo)體晶圓異物照明檢查燈
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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