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WD4000亞納米分辨率晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)PX 6511
WD4000半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備PX 6511
WD4000無(wú)圖晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)PX 6511
WD4000晶圓厚度高精度測(cè)量系統(tǒng)PX 6511
WD4000晶圓測(cè)量設(shè)備幾何形貌測(cè)量系統(tǒng)PX 6511
WD4000半導(dǎo)體量檢測(cè)設(shè)備PX 6511
WD4000晶圓形貌測(cè)量設(shè)備PX 6511
WD4000晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 6511
WD4000半導(dǎo)體晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備PX 6511
NS200臺(tái)階輪廓儀PX 6511
VT6100共焦顯微鏡測(cè)量?jī)xPX 6511
WD4000晶圓表面形貌測(cè)量設(shè)備PX 6511
BX-G3486高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3484高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3477高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3472高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3466高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3466高性能-太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3459高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3458高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3457高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3456高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3455多功能隔熱膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3454多功能隔熱膜溫度測(cè)試儀PX 3014
BX-G3453高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3450高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3449高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
BX-G3448高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3014
UltraFilm薄膜測(cè)量系統(tǒng)PX 7217
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7217
FR-Ultra晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7217
FR-ES精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量?jī)xPX 7217
FR-Ultra 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7217
FPTOH-TOHOSPEC3100進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 2772
FPESS-Photon RT光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PX 2772
FPTHE-FR-Thermal聚合物薄膜測(cè)厚儀,進(jìn)口膜厚儀PX 2772
FRANG-SR500進(jìn)口光學(xué)膜厚儀PX 2772
NH-3SPs高精度點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦3D測(cè)量機(jī)PX 0
NH-3Ns光點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦3D形狀高精度測(cè)量機(jī)PX 0
MLP-3自動(dòng)對(duì)焦3D形狀高精度測(cè)量機(jī)PX 0
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長(zhǎng)設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
晶圓THK測(cè)量設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量機(jī)
晶圓厚度測(cè)量設(shè)備
無(wú)圖晶圓厚度翹曲量測(cè)系統(tǒng)
晶圓幾何形貌在線測(cè)量系統(tǒng)
晶圓膜厚測(cè)量設(shè)備
膜厚測(cè)量?jī)x
晶圓幾何尺寸量測(cè)設(shè)備
臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營(yíng)許可證
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