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高靈敏度、多道同時(shí)型X 射線熒光光譜儀
波長色散X射線熒光光譜儀
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
高靈敏度、多道同時(shí)型X 射線熒光光譜儀
波長色散X射線熒光光譜儀
•可快速進(jìn)行4Be~92U 的組成分析
•一次zui多可同時(shí)測(cè)量40 個(gè)元素 1～100 秒
•樣品的前處理簡單易行
•分析對(duì)象包括鋼鐵、有色金屬、水泥、電子材料、大分子等。
•可進(jìn)行WD-XRF *的高分辨率、高S/N 比分析
•采用對(duì)數(shù)螺旋式光學(xué)系統(tǒng)
•采用APCAutomatic Pressure Control方式，即使是超輕元素也可在穩(wěn)定的狀態(tài)下進(jìn)行分析
•采用快速進(jìn)樣系統(tǒng)
•采用粉末附件
•雙真空排氣系統(tǒng)（粉末&金屬塊）
•配備高精度FPFundamental Parameter法
質(zhì)量管理分析 定量分析
•可快速進(jìn)行4Be~92U的組成分析1～100 秒/元素
•測(cè)量范圍廣（ppm～100）
•高精度的重復(fù)性
可進(jìn)行BaTiO3鈦酸鋇的摩爾比率的管理分析。
•簡單易行的前處理
通過研磨、粉碎、壓片等前處理為分析提供可能。
•粉末附件（選購）
•APC真空穩(wěn)定機(jī)構(gòu)系統(tǒng)