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日立分析儀器(上海)有限公司

日立與您相約APFE 2024

時間:2024-6-3 閱讀:390
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上海國際膠帶與薄膜展覽會與上海國際模切展覽會簡稱「APFE」,兩展結(jié)合起來共同搭建起了膠粘新材與功能薄膜行業(yè)國際性的商貿(mào)及技術(shù)交流平臺,成為當今全球膠帶與薄膜行業(yè)的行業(yè)盛會,日立展臺恭候您的光臨。


 

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   展會時間及地點

 

 

2024年6月3-5日
中國?上海?虹橋?國家會展中心

 

   日立展位號

 

2.1H展廳2B156展位


 

 

   日立解決方案

 

 

準確獲得紙張、薄膜和離型膜上有機硅涂層的厚度和質(zhì)量非常重要。如果涂層太薄,可能無法充分脫離,將導致產(chǎn)品無法使用;如果涂層太厚,生產(chǎn)成本會變得過高。如果將粘合紙或粘合膜用于PCB,則粘合層上的任何殘留有機硅均可能對性能產(chǎn)生不利影響,因此必須仔細控制有機硅層的質(zhì)量。


LAB-X5000臺式XRF用于準確可靠的質(zhì)量控制

功能強大的LAB-X5000是測量有機硅涂層重量之選。其堅固緊湊的設計確保其能夠輕松適應繁忙的生產(chǎn)環(huán)境。隨附的樣品旋轉(zhuǎn)器能夠輕松分析樣品盤上的多個點,從而檢驗涂層的同質(zhì)性。已針對有機硅厚度測量對LAB-X進行預先優(yōu)化,能夠校正粘土涂布紙或粘土填料紙的干擾。

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X-Supreme8000臺式XRF用于大批量生產(chǎn)分析

X-Supreme8000是生產(chǎn)環(huán)境中進行分析大量樣品分析之選。該分析儀包括一臺十位自動進樣器,使用中可將十件樣品裝載至儀器中進行自動分析。X-Supreme可就各類基材上的有機硅涂層重量厚度,提供準確可靠的結(jié)果,并且能夠測量硅油中存在的鉑催化劑量,以便進行過程控制。

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熱分析儀器

日立的熱分析儀系列廣泛用于材料物性評測分析,比如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熱膨脹、軟化特性等。這類儀器受到全球制造商和研究實驗室的信任,且具有頂級靈敏度,能捕捉微小的熱事件。儀器整合了日立的RealView系統(tǒng),在關(guān)鍵時刻具有可靠熱分析所需的精度和準確度。

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