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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

PRODUCT DISPLAY

當(dāng)前位置：岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司>>產(chǎn)品展示

EVG光刻機(jī)
EVG鍵合機(jī)
晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量
EVG納米壓印機(jī)
膜厚儀
防震臺(tái)
晶圓厚度測(cè)量
應(yīng)力測(cè)量
3D形貌儀/白光干涉輪廓儀
光學(xué)鏡頭對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)(定心儀)
片電阻測(cè)量?jī)x
晶圓缺陷檢測(cè)
等離子去膠
橢偏儀
臺(tái)階儀
4D 動(dòng)態(tài)激光干涉儀
光學(xué)粗糙度測(cè)試儀
電容式位移傳感器
磁性材料檢測(cè)設(shè)備
全自動(dòng)測(cè)量機(jī)臺(tái)
微納樣品制備加工

  • LAS-BT-VIS™ NextGen 定心儀（偏心儀） 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    LAS-BT-VIS™是一款緊湊的（臺(tái)式）非接觸式透鏡對(duì)準(zhǔn)和檢測(cè)系統(tǒng)，從地面開始設(shè)計(jì)，用于精確透鏡聚焦和傾斜測(cè)量單元件，雙透鏡，三重透鏡和多元件透鏡...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    透鏡對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)
    2024/11/9 16:12:232079

  • UltraFilm - 薄膜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù)，是國(guó)內(nèi)可以...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜測(cè)量同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)
    2024/11/26 17:22:252011

  • UltraShape - 晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    系統(tǒng)用于磨片、拋光等前道工藝流程中的晶圓尺寸及形貌檢測(cè)，包括TTV，Bow，Warp，TIR等參數(shù)，可覆蓋4寸-12寸任何材質(zhì)晶圓的關(guān)鍵尺寸檢測(cè)，精度達(dá)國(guó)際水平...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    測(cè)量關(guān)鍵尺寸前道TTV
    2024/11/9 16:08:531719

  • UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國(guó)產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)表面缺陷檢測(cè)缺陷檢測(cè)
    2024/11/9 16:06:291940

  • MESA系列 磁性測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    SHB自1976年以來，Instruments一直在生產(chǎn)一系列行業(yè)主導(dǎo)的磁性測(cè)量系統(tǒng)。與其他競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同的是，臺(tái)面系列采用最新的全數(shù)字電路和信號(hào)處理技術(shù)進(jìn)行測(cè)量
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    磁性測(cè)量MESASHB
    2024/11/9 16:04:071702

  • WLA-5000 - 磁傳感器晶圓水平儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    分析磁性薄膜和傳感器的性能對(duì)磁性傳感器的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)至關(guān)重要，ISI的WLA-5000磁性傳感器分析儀結(jié)合了ISI專有的測(cè)量電子設(shè)備、電源、探針卡、控制器和磁鐵，...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    水平儀磁傳感器
    2024/11/9 16:01:511726

  • WLA-3000 晶圓水平儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    分析磁膜性能對(duì)磁傳感器的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)至關(guān)重要，WLA-3000自動(dòng)晶圓液位分析儀可以與各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)晶圓探針集成，以表征成品器件或測(cè)試結(jié)果（包括橋接配置）的磁...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓水平儀磁傳感器測(cè)試
    2024/11/9 16:00:001509

  • 組裝和檢查紅外系統(tǒng) 定心儀（偏心儀） 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：LAS系列
    定心儀具有綠色（520nm）激光反射光模塊，533mm垂直直線聚焦運(yùn)動(dòng)，微步進(jìn)電機(jī)和高精度旋轉(zhuǎn)編碼器
    型號(hào)： LAS系列 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    組裝和檢查紅外系統(tǒng)
    2024/11/9 15:54:152584

  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國(guó)產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)表面缺陷檢測(cè)缺陷檢測(cè)
    2024/12/18 13:38:332283

  • UltraFilm薄膜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù)，是國(guó)內(nèi)可以...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜測(cè)量同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)
    2024/11/26 17:16:592515

  • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    FR-Ultra 是一款專用于精確測(cè)量半導(dǎo)體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備。 藉由先進(jìn)的光學(xué)器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測(cè)量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
    型號(hào)： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓厚度測(cè)量FR-Ultra半導(dǎo)體測(cè)量半導(dǎo)體材料
    2024/11/9 15:45:581770

  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:44:273132

  • QuickPRO-RPS--旋轉(zhuǎn)剖面儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    專為測(cè)量旋轉(zhuǎn)對(duì)稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設(shè)計(jì)，如金剛石車削光學(xué)表面和模塑或拋光的非球面透鏡
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    旋轉(zhuǎn)剖面儀OATI輪廓儀形貌儀
    2024/11/9 15:42:531695

  • QuickPRO-3D--表面輪廓儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    適用于光學(xué)、工業(yè)和半導(dǎo)體市場(chǎng)的高速、中精度、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的表面輪廓儀，納米分辨率彩色共聚焦傳感器（可配制點(diǎn)和線傳感器），為在線過程測(cè)量和控制而設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊，易于上...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    輪廓儀表面測(cè)量3D形貌儀白光干涉輪廓儀
    2024/11/9 15:41:002402

  • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    應(yīng)力測(cè)量光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:36:491620

  • iFocus晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺檢測(cè)系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    長(zhǎng)川晶圓檢測(cè)iFocus晶圓缺陷檢測(cè)STI
    2024/11/9 15:34:222769

  • 自動(dòng)化SmartNIL紫外納米壓印光刻系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：EVG720
    長(zhǎng)達(dá) 150 毫米的自動(dòng)化全場(chǎng)紫外納米壓印解決方案，采用 EVG 專有的 SmartNIL 技術(shù)
    型號(hào)： EVG720 品牌：EVG所在地：上海市 對(duì)比
    EVG720納米壓印光刻
    2024/11/9 15:30:181909

  • FR-Mic：全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量膜厚儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
    型號(hào)： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀測(cè)膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 15:28:141818

  • FR-InLine-在線薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測(cè)量?jī)x（膜厚儀），可進(jìn)行在線非接觸測(cè)量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
    型號(hào)： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀FR-InLine岱美儀器
    2025/4/8 15:19:312313

  • -自動(dòng)化高速薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測(cè)量?jī)x*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
    型號(hào)： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    顯示器薄膜測(cè)量自動(dòng)高速薄膜厚度測(cè)量薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 15:21:021145

  • 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：FR-Ultra
    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測(cè)量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
    型號(hào)： FR-Ultra 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 15:19:311585

  • 精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：FR-ES
    FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。
    型號(hào)： FR-ES 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜測(cè)厚儀
    2024/11/9 15:17:031686

  • 分步重復(fù)納米壓印光刻機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：EVG770 NT
    我們的EVG770分步重復(fù)納米壓印光刻機(jī)是用于步進(jìn)式納米壓印光刻的通用平臺(tái)，可用于有效地進(jìn)行母版制作或?qū)迳系膹?fù)雜結(jié)構(gòu)進(jìn)行直接圖案化。這種方法允許從蕞大50 ...
    型號(hào)： EVG770 NT 品牌：EVG所在地：上海市 對(duì)比
    EVG770 NTEVG770納米壓印光刻機(jī)
    2025/5/20 13:19:232485

  • 自動(dòng)化臨時(shí)鍵合系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：EVG850 TB
    EVG850 TB-自動(dòng)化臨時(shí)鍵合系統(tǒng) EVG鍵合機(jī) 全自動(dòng)的臨時(shí)鍵合系統(tǒng)（晶圓鍵合機(jī)）可在一個(gè)自動(dòng)化工具中實(shí)現(xiàn)整個(gè)臨時(shí)鍵合過程-從臨時(shí)鍵合劑的施加，烘焙，將設(shè)...
    型號(hào)： EVG850 TB 品牌：EVG所在地：上海市 對(duì)比
    自動(dòng)晶圓鍵合對(duì)準(zhǔn)機(jī)晶圓鍵合對(duì)準(zhǔn)機(jī)鍵合對(duì)準(zhǔn)機(jī)鍵合對(duì)準(zhǔn)機(jī)價(jià)格
    2024/11/9 15:13:442317
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