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這款KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy)可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數(shù)圖。掃描開爾文探針的功函數(shù)分辨率為1-3meV，探針直徑的空間分辨率為0.05mm，可對功函數(shù)、接觸電位差和伏特電位進(jìn)行可靠、可重復(fù)的測量。
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡可以選配高性能的光學(xué)/法拉第外殼屏蔽外殼，使其免受不必要的快速變化的環(huán)境條件、電磁干擾，并為我們的環(huán)境壓力光電發(fā)射光譜和表面光電壓附加模塊提供了的平臺。
KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡特色
用開爾文探針測量功函數(shù)
1-3mev的功函數(shù)分辨率
掃描范圍從50毫米到300毫米
掃描分辨率等于針尖直徑
自動高度調(diào)節(jié)

KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡應(yīng)用
防腐，碳鋼，薄膜，太陽能電池，氧化鉬，氧化鋅納米線薄膜，量子點(diǎn)，空穴傳輸，納米顆粒，石墨烯，有機(jī)發(fā)光二極管。

KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡掃描結(jié)果