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曲面表面殘留測量儀特點:
適合測量各種金屬表面,玻璃表面等材料表面上的有機物薄膜厚度表面殘留量,可測薄膜厚度下限達到1-2 µg/cm2 。
它不僅可以測量平板平面有機物殘留量厚度,還可以測量諸如氣缸,活塞,軸承等不規(guī)則平面的油膜厚度,也適合測量小尺寸樣品的油膜厚度測量和表面殘留量測量。
采用的FTIR光譜技術,高精度地探測物體表面的有機化合物,是目前范圍內這一技術的靈敏度較高的表面檢測儀器。
能夠實時分析復雜表面,手持式測量探頭放置到表面上就可以直接測量,使用非常簡易方便。