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更新時(shí)間:2024-09-11 14:26:27
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晶圓電阻率測(cè)試儀采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)量。
晶圓電阻率測(cè)試儀應(yīng)用
晶圓制造,晶圓品控,晶圓檢測(cè)等。
晶圓電阻率測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)
晶圓電阻率測(cè)試儀-低電阻測(cè)量
Gauge Types | Wafer Diameter | Resistivity Range | Thickness Range |
MX 601 | up to 6" | 5E4 to 5E9 Ohm*cm | 350 - 650µm |
MX 6010 | 2", 3", 4" | 2E5 to 2E9 Ohm*cm | 300 - 600µm |
晶圓電阻率測(cè)試儀采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)量。
晶圓電阻率測(cè)試儀應(yīng)用
晶圓制造,晶圓品控,晶圓檢測(cè)等。
晶圓電阻率測(cè)試儀采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)量。
晶圓電阻率測(cè)試儀應(yīng)用
晶圓制造,晶圓品控,晶圓檢測(cè)等。
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