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北京鴻達(dá)天矩試驗(yàn)設(shè)備有限公司所生產(chǎn)的高低溫試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T2423.1-2008  GB/T2423.2-2008等標(biāo)準(zhǔn)，也可根據(jù)客戶的要求非標(biāo)定做。

GB/T2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T2423.1-2008適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版無實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。

本低溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用，運(yùn)輸或貯存的能力。

本低溫試驗(yàn)不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。

本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：

—非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：

試驗(yàn)Ab，溫度漸變。 

—散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：

試驗(yàn)Ad，溫度漸變。

試驗(yàn)Ae，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。

本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

GB/T2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T2423.2-2008適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Bb和試驗(yàn)Bd與早期版無實(shí)質(zhì)性的差異。

本低溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用，運(yùn)輸或貯存的能力。

本低溫試驗(yàn)不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22。

本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：

—非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：

試驗(yàn)Bb，溫度漸變。 

—散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：

試驗(yàn)Bd，溫度漸變。

試驗(yàn)Be，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。

本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

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