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平晶操作規(guī)程
平晶操作規(guī)程
1.目的：查明和確認(rèn)平晶的技術(shù)狀態(tài)是否符合國家計量檢定規(guī)程的規(guī)定要求。
2.適用范圍：適用于開展對平面平晶、平行平晶的檢定。
3.依據(jù)文件：JJG28-2000，平晶檢定規(guī)程。
4.檢定所使用的計量標(biāo)準(zhǔn)：2等標(biāo)準(zhǔn)平晶。其中主要檢定工具包括光學(xué)計、測長機、平面等厚干涉儀。
5.檢定時的環(huán)境要求：溫度20±5℃和濕度不大于80%RH（平面平晶）、溫度20±3℃和濕度不大于80%RH（平行平晶）的檢定室內(nèi)進行。
6.檢定前的準(zhǔn)備工作：
6.1查看標(biāo)準(zhǔn)器及主要配套設(shè)備管理標(biāo)志（合格證）是否在有效期內(nèi)，如不在有效期內(nèi)則一律不準(zhǔn)使用，應(yīng)及時與技術(shù)科，查明原因。
6.2查看檢定室內(nèi)溫度、濕度是否滿足檢定規(guī)程的要求，如不滿足，應(yīng)使用空調(diào)器調(diào)節(jié)檢定地點溫度，使其滿足要求。
6.3用干凈白布將被檢平晶表面擦凈。
6.4被檢平晶放置在檢定室內(nèi)，等溫的時間應(yīng)不少于10h。
6.5準(zhǔn)備好檢定工具，原始記錄表格（原始記錄表格樣式見附錄）。
7檢定步驟：
7.1外觀及表面質(zhì)量：
根據(jù)規(guī)程要求，借助放大鏡目力觀察。
7.2外形尺寸：
平行平晶中心長度尺寸用測長機直接檢定。其他外形尺寸用游標(biāo)卡尺進行檢定。
7.3兩端面夾角：
平面平晶兩端面夾角用1級百分表檢定。
7.4工作面與母線垂直度：
用分度值不大于5′角度規(guī)進行檢定。
7.5非工作面平面度：
平面平晶采用不小于被檢平面平晶直徑的2級平晶檢定。
7.6兩工作面的平行度：
用光學(xué)計進行檢定。
7.7工作面的平面度：
用平面等厚干涉儀與2等標(biāo)準(zhǔn)平晶比較檢定。
8.檢定結(jié)果的處理：
經(jīng)檢定符合本規(guī)程要求的平晶，出具檢定證書。不符合本規(guī)程要求的平晶發(fā)檢定不合格通知書，并注明不合格項目。
9.檢定周期：
工作平晶根據(jù)使用情況確定檢定周期，zui長不超過一年。
10．檢定操作結(jié)束的處理：
10.1將標(biāo)準(zhǔn)放入盒內(nèi)，其他配套設(shè)備放歸原存放處。
10.2填寫《計量標(biāo)準(zhǔn)器使用記錄》。
10.3清理工作場所。
10.4平晶的檢定周期為一年，必要時，根據(jù)實際情況可提前檢定。
10.5原始記錄的填寫執(zhí)行程序文件《原始記錄和數(shù)據(jù)處理程序》
10.6檢定證書或檢定結(jié)果通知書的填寫執(zhí)行程序文件《結(jié)果報告程序》
附錄《平晶檢定記錄表》
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