您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品分類品牌分類
-
數(shù)字直流電橋 數(shù)字微歐計(jì) 電阻測(cè)試儀 電阻分選儀 直流電阻電橋 直流電阻箱，直流電阻器 直流標(biāo)準(zhǔn)電阻 直流電位差計(jì) 轉(zhuǎn)換開關(guān) 變壓比電橋 低電阻校準(zhǔn)儀 其它測(cè)試儀器 電阻模擬器 交、直流電阻箱 直流檢流計(jì) 匝間絕緣測(cè)試儀 匝間沖擊耐壓儀 線圈測(cè)量?jī)x 電力、電纜測(cè)試儀 標(biāo)準(zhǔn)器產(chǎn)品 自動(dòng)旋光儀 數(shù)字熔點(diǎn)儀 阿貝折射儀 應(yīng)力儀 可見分光光度計(jì) 紫外分光光度計(jì) 直流穩(wěn)壓電源 交流穩(wěn)壓電源 晶體管特性圖示儀 數(shù)字示波器 半導(dǎo)體芯片
平晶操作規(guī)程
平晶操作規(guī)程
1.目的：查明和確認(rèn)平晶的技術(shù)狀態(tài)是否符合國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程的規(guī)定要求。
2.適用范圍：適用于開展對(duì)平面平晶、平行平晶的檢定。
3.依據(jù)文件：JJG28-2000，平晶檢定規(guī)程。
4.檢定所使用的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)：2等標(biāo)準(zhǔn)平晶。其中主要檢定工具包括光學(xué)計(jì)、測(cè)長(zhǎng)機(jī)、平面等厚干涉儀。
5.檢定時(shí)的環(huán)境要求：溫度20±5℃和濕度不大于80%RH（平面平晶）、溫度20±3℃和濕度不大于80%RH（平行平晶）的檢定室內(nèi)進(jìn)行。
6.檢定前的準(zhǔn)備工作：
6.1查看標(biāo)準(zhǔn)器及主要配套設(shè)備管理標(biāo)志（合格證）是否在有效期內(nèi)，如不在有效期內(nèi)則一律不準(zhǔn)使用，應(yīng)及時(shí)與技術(shù)科，查明原因。
6.2查看檢定室內(nèi)溫度、濕度是否滿足檢定規(guī)程的要求，如不滿足，應(yīng)使用空調(diào)器調(diào)節(jié)檢定地點(diǎn)溫度，使其滿足要求。
6.3用干凈白布將被檢平晶表面擦凈。
6.4被檢平晶放置在檢定室內(nèi)，等溫的時(shí)間應(yīng)不少于10h。
6.5準(zhǔn)備好檢定工具，原始記錄表格（原始記錄表格樣式見附錄）。
7檢定步驟：
7.1外觀及表面質(zhì)量：
根據(jù)規(guī)程要求，借助放大鏡目力觀察。
7.2外形尺寸：
平行平晶中心長(zhǎng)度尺寸用測(cè)長(zhǎng)機(jī)直接檢定。其他外形尺寸用游標(biāo)卡尺進(jìn)行檢定。
7.3兩端面夾角：
平面平晶兩端面夾角用1級(jí)百分表檢定。
7.4工作面與母線垂直度：
用分度值不大于5′角度規(guī)進(jìn)行檢定。
7.5非工作面平面度：
平面平晶采用不小于被檢平面平晶直徑的2級(jí)平晶檢定。
7.6兩工作面的平行度：
用光學(xué)計(jì)進(jìn)行檢定。
7.7工作面的平面度：
用平面等厚干涉儀與2等標(biāo)準(zhǔn)平晶比較檢定。
8.檢定結(jié)果的處理：
經(jīng)檢定符合本規(guī)程要求的平晶，出具檢定證書。不符合本規(guī)程要求的平晶發(fā)檢定不合格通知書，并注明不合格項(xiàng)目。
9.檢定周期：
工作平晶根據(jù)使用情況確定檢定周期，zui長(zhǎng)不超過一年。
10．檢定操作結(jié)束的處理：
10.1將標(biāo)準(zhǔn)放入盒內(nèi)，其他配套設(shè)備放歸原存放處。
10.2填寫《計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器使用記錄》。
10.3清理工作場(chǎng)所。
10.4平晶的檢定周期為一年，必要時(shí)，根據(jù)實(shí)際情況可提前檢定。
10.5原始記錄的填寫執(zhí)行程序文件《原始記錄和數(shù)據(jù)處理程序》
10.6檢定證書或檢定結(jié)果通知書的填寫執(zhí)行程序文件《結(jié)果報(bào)告程序》
附錄《平晶檢定記錄表》
歡迎親們光臨本公司：http://www.yz5117.com