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紅外熱成像儀探測(cè)器的定義
探測(cè)器的zui小單元為像素，每一個(gè)像素都是一個(gè)獨(dú)立的測(cè)溫點(diǎn)。探測(cè)器的像素越多，意味著測(cè)溫點(diǎn)越多，成像效果越好。 主流的熱像儀的探測(cè)器像素有：60×60、80×80、120×120、140×140、180×180、160×120、240×180、320×240、640×480等。
探測(cè)器就是紅外熱像儀的傳感器，主要是為了探測(cè)到物體的紅外輻射并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。
現(xiàn)今使用的探測(cè)器可分為非制冷焦平面陣列FPA和制冷型FPA兩大類。非制冷FPA有多晶硅、氧化釩等材料；制冷型FPA主要有碲鎘汞（PbCdTe）、量子阱（QWIP）等材料。
非制冷FPA又分為兩類：光學(xué)讀出非制冷焦平面陣列和電學(xué)讀出非制冷焦平面陣列。
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