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專為紫外輻射照度測試而設計。較好紫外測量技術，克服長期以來國內(nèi)紫外測量技術誤差大，復現(xiàn)性差，探測器長期衰減大等缺點，具備靈敏度高，余弦修正好，長期穩(wěn)定性高，精度好等優(yōu)點，滿足各項和國內(nèi)標準。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
多波段紫外輻照度計
專為紫外輻射照度測試而設計。較好紫外測量技術，克服長期以來國內(nèi)紫外測量技術誤差大，復現(xiàn)性差，探測器長期衰減大等缺點，具備靈敏度高，余弦修正好，長期穩(wěn)定性高，精度好等優(yōu)點，滿足各項和國內(nèi)標準。
多波段紫外輻照度計 主要特點
已被廣泛應用于紫外光源、印刷、醫(yī)療、衛(wèi)生、生物生長、驗鈔、消毒殺菌等行業(yè)。用戶可根據(jù)實際需要選擇不同波段探測器，從而實現(xiàn)不同測試要求。*靈敏度UV探頭可為客戶訂制。
技術指標
測量范圍寬 0.01～1.9999×105μW/C㎡ or mW/㎡
測量精度 ±5%
CIE UVA 315nm～400nm
CIE UVB 280nm～315nm
CIE UVC 220nm～280nm
CIE UVBC 185nm～315nm
CIE UVBC1 160nm～315nm
UVAO 375nm～475nm
UV365 λp=365nm
UV310 λp=310nm
UV297 λp=297nm
UV254 λp=254nm