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X射線熒光光譜儀的構造和測試步驟
閱讀：3100 發(fā)布時間：2020-3-5
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。
X射線熒光光譜儀的構造：
主要由以下幾部分組成：
（1）激發(fā)系統(tǒng)：主要部件為X射線管，可以發(fā)出原級X射線（一次X射線），用于照射樣品激發(fā)熒光X射線；
?。?）分光系統(tǒng)：對來自樣品待測元素發(fā)出的特征熒光X射線進行分辨（主要為分光晶體）；
?。?）探測系統(tǒng)：對樣品待測元素的特征熒光X射線進行強度探測；
?。?）儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)：處理探測器信號，給出分析結果。
X射線熒光光譜儀的測試步驟：
（1）選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數(shù)法、半基本參數(shù)法、經驗系數(shù)法等，制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法，常用粉末壓片法制樣，采用基本參數(shù)法測試。
（2）將制備好的樣片裝進樣品杯，放入樣品交換器中，自動進樣至樣品室，X射線管發(fā)出原級X射線照射樣品，激發(fā)出待測元素的熒光X射線。
?。?）樣品輻射出的熒光X射線通過分光晶體，將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線，由探測器測量各譜線的強度，根據(jù)選用的分析方法換算成元素濃度，得到樣品中待測元素含量。