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X熒光光譜儀XRF的性能特點(diǎn)和主要優(yōu)勢(shì)概述
閱讀：2366 發(fā)布時(shí)間：2022-1-14
X熒光光譜儀XRF是用X-射線管發(fā)出的初級(jí)線束輻照樣品，激發(fā)各化學(xué)元素發(fā)出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發(fā)射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測(cè)定各種元素的特征X-射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度，從而測(cè)定各種元素的含量；而光譜儀是通過(guò)濾光片得到背景相對(duì)較低的X射線，照射樣品發(fā)射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導(dǎo)體檢測(cè)器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進(jìn)行色散，根據(jù)各元素特征能量的強(qiáng)度高低來(lái)測(cè)定各元素的量；根據(jù)各元素特征能量的強(qiáng)度高低來(lái)測(cè)定各元素的量，這就大大提高了儀器的信噪比，提高了能譜儀分析輕元素的能力。
X熒光光譜儀XRF的性能特點(diǎn)：
專(zhuān)業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
超薄窗大面積的進(jìn)口SDD探測(cè)器。
內(nèi)置信噪比25倍。
抽真空樣品腔，有利于低含量輕元素的分析
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。
X熒光光譜儀XRF的主要優(yōu)勢(shì)：
1、采用*的激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測(cè)系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測(cè)靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現(xiàn)代化的外觀，結(jié)構(gòu)和色彩，上蓋電動(dòng)控制開(kāi)關(guān)，更人性化；
3、準(zhǔn)直器，濾光片自動(dòng)切換，可適應(yīng)不同的樣品測(cè)試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測(cè)量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測(cè)試軟件。