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TESCAN S8000G掃描電鏡是一款 FIB-SEM 系統(tǒng)，滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求，它可以提供的圖像質(zhì)量，可完成復(fù)雜的納米操作并保證的精度和操作靈活性。

TESCAN S8000G掃描電鏡配置了BrightBeam™ 鏡筒，真正的無磁場(chǎng)超高分辨（UHR）可以實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析，以及在 FIB 操作時(shí) SEM 的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了分辨率，特別適合低束流時(shí)對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。另一方面，創(chuàng)新的 Orage™ Ga FIB 鏡筒配有的離子光學(xué)系統(tǒng)和設(shè)計(jì)的 OptiGIS™氣體注入系統(tǒng)，使得 TESCAN S8000G 成為了樣品制備和納米加工的儀器。

模塊化、基于工作流的軟件確保了在所有應(yīng)用中都能進(jìn)行操控，不需要在復(fù)雜的技術(shù)之間進(jìn)行取舍，用戶界面友好。TESCAN S8000G 適用于的 FIB-SEM 應(yīng)用，適合那些在科技領(lǐng)域追求更好的理解和突破的人員。