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目錄:TESCAN泰思肯貿(mào)易(上海)有限公司>> 掃描透射探測(cè)器掃描透射探測(cè)器

掃描透射探測(cè)器
  • 掃描透射探測(cè)器
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) 掃描透射探測(cè)器
  • 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2019-06-13 11:38:20瀏覽次數(shù):533評(píng)價(jià)

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掃描透射探測(cè)器是將透射電鏡(TEMs)和掃描電鏡(SEM)原理相結(jié)合的電子顯微鏡。它可以部分實(shí)現(xiàn)透射電子顯微鏡(TEM)的應(yīng)用。STEM 探測(cè)器利用透射電子反映的*信息,擴(kuò)展了 SEM 和 FIB-SEM 的成像和分析性能。它要求樣品厚度小于 100 nm,并可結(jié)合元素分析技術(shù),如 EDS 和透射模式 EBSD,以獲得更高分辨率的顯微分析信息

掃描透射探測(cè)器在不同角度散射的透射電子反映樣品的不同信息,可獲得以下信號(hào):

  • 明場(chǎng)像(BF)通常代表薄片樣品的布拉格衍射取向和質(zhì)厚襯度
  • 暗場(chǎng)像(DF)包含部分取向襯度和輕元素的成分襯度
  • 高角度暗場(chǎng)像(HADF)包含多的是成分襯度 散射角取決于材料、薄片的厚度和電子束能量。

掃描透射探測(cè)器散射角取決于材料、薄片的厚度和電子束能量。
 
應(yīng)用:STEM 探測(cè)器用于研究生物樣品中的超微結(jié)構(gòu)、半導(dǎo)體器件的失效分析和材料的表征。
 
TESCAN 開(kāi)發(fā)了兩種類(lèi)型的 STEM 探測(cè)器,都可以用于 SEM 或 FIB-SEM系統(tǒng),對(duì)于 FIB-SEM 系統(tǒng)而言,它有助于制備高質(zhì)量薄片樣品并進(jìn)行原位分析,增強(qiáng)了儀器的分析能力。

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