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 1.過于低的溫度也會影響電子產(chǎn)品的正常啟動，使電子產(chǎn)品的儀表增大誤差。

  2.低溫會導(dǎo)致電解液凍結(jié)，電解液一旦凍結(jié)，就會導(dǎo)致電解電容、電池不能正常使用。

3.低溫同時會導(dǎo)致潤滑油粘度增加，甚至冷凝、凍結(jié)，影響產(chǎn)品的起動性能。

4.彈性元件的彈性和機(jī)械性能強(qiáng)度降低，縮短產(chǎn)品的使用壽命

 恒溫恒濕試驗箱作為產(chǎn)品的試驗之一，其應(yīng)用越來越廣泛，也受到越來越多單位的重視。

恒溫恒濕試驗：

。電子產(chǎn)品為什么要做恒溫恒濕環(huán)境試驗？ 電子電工產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確的選擇產(chǎn)品的環(huán)境保護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在使用過程中安全可靠。因此，恒溫恒濕具有可靠性高、范圍廣、綜合環(huán)境多參數(shù)、試驗條件復(fù)雜等特點、為工業(yè)生產(chǎn)的零件、半成品和成品的產(chǎn)品提供的溫度和濕度條件，專業(yè)用于電子，汽車，動力電池，電芯，鋰電池等產(chǎn)品。因此環(huán)境試驗條件、試驗方法、試驗設(shè)備是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。

參照標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗方法

               GB/T2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法

               GJB1150.3-1986高溫試驗

               GJB150.4-1986低溫試驗

               GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件

              GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件

              GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

              GB/T2423.2-2008低溫

              GB/T2423.3-2006高溫

              GB/T2423.4-2008恒定濕熱

高溫試驗：

高低溫試驗箱是環(huán)境模擬試驗機(jī)，是檢驗電子儀器原件在高低溫環(huán)境下產(chǎn)品性能檢測的產(chǎn)品，是檢驗電子產(chǎn)品，材料、電子、儀器儀表,通信，塑料，金屬，化工，建材，醫(yī)療的各種性能指標(biāo)重要設(shè)備，當(dāng)今社會科技進(jìn)步，沒有穩(wěn)定的產(chǎn)品性能，是很難滿足客戶的需求的，所以現(xiàn)在大大小小的電子產(chǎn)品都在試驗自己產(chǎn)品性能。提高自己產(chǎn)品性能，所以電子產(chǎn)品的試驗離不開高低溫試驗箱，和環(huán)境檢測設(shè)備的，是考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價。暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。

參照標(biāo)準(zhǔn)：GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

               GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

               GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件

              GB/T2423.1-2008低溫試驗箱試驗方法

             GB/T2423.2-2008高溫試驗箱試驗方法

             GB/T2423.22-2002溫度試驗箱試驗方法

            IEC60068-2-1.1990低溫試驗箱試驗方法

            IEC60068-2-2.1974高溫試驗箱試驗方法

            GJB150.3高溫試驗

            GJB150.4低溫試驗

對于這些情況，相關(guān)規(guī)范的制定可根據(jù)客戶的要求規(guī)格性能定制的