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江蘇天瑞儀器股份有限公司

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雜散光對光譜分析儀的影響

閱讀:505      發(fā)布時間:2014-10-27
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   雜散光是所有光學(xué)儀器系統(tǒng)中固有的一種有害的非檢測光,對儀器的測量精度影響很大。對于光譜分析儀系統(tǒng)而言,雜散光的影響更加不可忽略。在光譜儀中,雜散光是形成系統(tǒng)背景光譜的主要原因,若背景光譜較強,則可能影響到微弱光信號的檢測,大大地降低系統(tǒng)的信噪比,同時會直接影響測量信號的度及單色性。
  目前市場上大多數(shù)光譜儀所提供的快速CCD光譜儀分光都采用平面光柵與多塊聚光鏡的組合,會產(chǎn)生極大的雜散光,對測量結(jié)果影響很大。新一代CMS-3S快速光譜分析儀,采用世界的全息凹面衍射光柵和東芝高性能的線性CCD陳列探測器。優(yōu)化了高性能CCD與全息凹面平場衍射光柵的匹配設(shè)計,通過求解關(guān)于不同像差項的非線性方程組來達到消除具體像差、補償像面的目的,只需一個光學(xué)元件,很好的解決了大多數(shù)廠家對快速光譜儀測試過程中產(chǎn)生極大雜散光,使光學(xué)匹配更,系統(tǒng)所獲得的光譜更純,線性更好。
  雜散光的控制遠遠達不到用全息凹面平場衍射光柵只需一個光學(xué)元件的超低效果。除了低雜散光,采用全息凹面平場衍射光柵對提高其熱穩(wěn)定性也有很好的幫助。在很寬的溫度范圍內(nèi)測量結(jié)果幾乎沒有波長漂移, 并且光譜譜峰有良好的保持效果。
  CMS-3S快速光譜分析儀采用了目前的消光材料對光譜儀內(nèi)部進行特殊消光處理,使整個系統(tǒng)的雜散光控制在0.015%以下,對提高色坐標(biāo)的度起到了關(guān)鍵的作用。

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