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GB/T 2423.24-2013測試標(biāo)準(zhǔn)
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GB/T 2423.24-2013標(biāo)準(zhǔn)介紹
GB/T 2423.24-2013是關(guān)于《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射》的測試方法。
GB/T 2423.24-2013是GB/T 2423的第24部分，GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。
本部分按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草。
本部分代替GB/T 2423.24 1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射》和GB/T 2424.14-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》。本部分整合了GB/T 2423.24 -1990及GB/T 2424.14 1995的相關(guān)內(nèi)容，與GB/T 2423.24
1995和GB/T 2424.14 --1995相比，主要技術(shù)變化和編輯性修改如下：
增加了目次、前言;
——增加了第2章“規(guī)范性引用文件”、第3章“術(shù)語和定義”、第10章“試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的信息”;
——刪除了GB/T 2423.24 1995中4.6對試驗(yàn)持續(xù)時間的推薦值;
——刪除了GB/T 2424.14 1995第9章“危險和人身安全”;
——刪除了GB/T 2424.14 1995的附錄A“輻射強(qiáng)度調(diào)整的計(jì)算”、附錄B“經(jīng)基底的熱傳輸”;
——GB/T 2424.14 1995第8章“試驗(yàn)結(jié)果的解釋”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄A，并在內(nèi)容上做了修改;
——GB/T 2424.14 1990第5章“輻射光源”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄B，并在內(nèi)容上做了修改;
——GB/T 2424.14-1990第6章“測量儀表”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄C，并在內(nèi)容上做了修改;
——溫度偏差的單位用“K”取代“℃”;
——光譜能量分布由CIE 20推薦值改為CIE 85推薦值;
——在附錄C中，規(guī)定了采用IS0 4892描述的設(shè)備進(jìn)行本部分規(guī)定的試驗(yàn)。
本部分采用翻譯法等同采用IEC 60068-2-5：2010《環(huán)境試驗(yàn)第2-5部分：試驗(yàn)試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則》。
與本部分中規(guī)范性引用的文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下：
——GB/T 2421.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南(IEC 60068-1：1988，IDT)
——GB/T 2423.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫(IEC 60068-2-1: 2007 ,IDT)
——GB/T 2423.2 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫(IEC 60068-2-2: 2007 ,IDT)
——GB/T 2423.32006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)(IEC 60068-2-78: 200I,IDT)
本部分與IEC 60068-2-0：2010相比，主要做了下列編輯性修改：
一一本部分的名稱改為：“環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則”;
-IEC原文第2章中的引用文件“CIE 85：1985”年份有誤，應(yīng)為“CIE 85：1989”，本部分予以更正，見腳注1);
——增加了腳注2);
——更正了表1中紅外線輻照度數(shù)值，由“186 W/1112'’改為“411.62 W/rr12'’，增加了表1的注和腳注6;
——正文中三處升降溫速率由原文的“1 K/min的速率”改為“小于1 K/min的速率”，見條文腳注3)、4)、5);
▼GB/T 2423.24-2013第三方檢測機(jī)構(gòu)
GB/T 2423.24-2013PDF資料
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