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KTE凱特ANF200數(shù)字式覆層測(cè)厚儀多功能測(cè)量說(shuō)明
KTE凱特ANF200數(shù)字式覆層測(cè)厚儀多功能測(cè)量說(shuō)明
產(chǎn)品概述：
ANF200數(shù)字式覆層測(cè)厚儀是本儀器一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速，無(wú)損傷，精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量.廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域,由于該儀器
體積小，測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
主要特點(diǎn)：
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（GROUP）；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；
可采用兩種方法對(duì)一起進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
具有存貯功能：可存貯500個(gè)測(cè)量值；
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，可也刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；
具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
具有與PC機(jī)通訊的同能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；
具有電源欠壓指示功能；
操作工程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
參數(shù)規(guī)格：
測(cè)頭類(lèi)型 | F | N | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 | |
測(cè)量范圍(µm) | 0~1250 | 0~1250 銅上鍍鉻（0-40） | |
低限分辨率(µm) | 0.1 | 0.1 | |
示值 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(µm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1.5) |
二點(diǎn)校準(zhǔn)(µm) | ±[(1~3%H)+1] | ±[(1~3%H)+1.5] | |
測(cè)試條 | 小曲率半徑(µm) | 凸1.5 | 凸3 |
小面值的直徑(mm) | Φ7 | Φ5 | |
基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 | |
頭選用參考表
覆蓋層
基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如：漆料、涂料塑料、搪瓷和陽(yáng)極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層(如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) |
如鐵、鋼等磁性金屬 | F性探頭 測(cè)量范圍： 0µm~1250µm | F型探頭 測(cè)量范圍： 0µm~1250µm |
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | N型探頭 測(cè)量范圍： 0µm~1250µm | N型探頭僅用于銅上鍍鉻 測(cè)量范圍 0µm~40µm |
產(chǎn)品圖片：
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